仪表杂质试验

检测项目

1.颗粒杂质检测：颗粒数量，颗粒粒径，颗粒分布，颗粒形貌，颗粒颜色。

2.金属杂质检测：金属屑含量，金属颗粒尺寸，金属颗粒分布，磁性杂质识别，金属来源分析。

3.非金属杂质检测：塑料碎屑，橡胶颗粒，涂层脱落物，密封材料残留，绝缘材料碎片。

4.纤维杂质检测：纺织纤维，纸质纤维，合成纤维，纤维长度，纤维数量。

5.油污残留检测：润滑油残留，加工油残留，清洗剂残留，油膜分布，油污附着程度。

6.表面洁净度检测：表面附着物，微粒沉积，污渍残留，局部污染，清洁状态测试。

7.内部腔体杂质检测：腔体颗粒物，管路残留物，孔道沉积物，密闭空间异物，装配后残留杂质。

8.焊接残留物检测：焊渣颗粒，助焊残留物，熔融飞溅物，焊点周边异物，焊接污染物。

9.密封部位杂质检测：密封槽异物，密封圈附着物，接触面杂质，密封间隙残留，密封污染程度。

10.过滤性杂质检测：可过滤颗粒，不溶性残留物，悬浮杂质，沉降杂质，截留物含量。

11.杂质成分分析：无机杂质成分，有机杂质成分，混合杂质组成，附着物成分，残留物类别判定。

12.杂质来源判定：加工产生杂质，装配引入杂质，包装带入杂质，运输污染物，环境落尘分析。

检测范围

压力仪表、温度仪表、流量仪表、液位仪表、显示仪表、记录仪表、控制仪表、传感器外壳、仪表阀体、仪表接头、仪表管路、仪表腔体、仪表面板、仪表壳盖、密封组件、连接组件、装配部件、清洗后部件

检测设备

1.光学显微镜：用于观察杂质颗粒、纤维及表面附着物的形貌特征，适合进行初步识别与分类。

2.体视显微镜：用于对较大颗粒、装配部位异物及表面污染情况进行放大观察，便于分析杂质分布状态。

3.颗粒计数装置：用于统计样品中颗粒杂质的数量与粒径分布，可支持清洁度评价。

4.过滤分离装置：用于将液体或冲洗液中的杂质进行截留与富集，便于后续称量和观察分析。

5.电子天平：用于测定过滤前后残留物质量变化，可进行杂质质量测试与结果比较。

6.干燥装置：用于去除样品或滤材中的水分，保证杂质称量和观察过程的稳定性。

7.冲洗提取装置：用于将仪表内部或表面附着杂质从样品中提取出来，提高杂质回收效率。

8.图像分析装置：用于对颗粒尺寸、面积、数量及形貌参数进行处理，提升杂质分析的规范性。

9.磁性分离装置：用于分离和识别杂质中的磁性颗粒，辅助判断金属杂质特征及来源。

10.表面观察装置：用于检测样品表面洁净状态、局部污染区域及附着残留物分布情况。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.