清洗剂晶粒度测试

检测范围

研磨清洗剂：金属研磨清洗剂、玻璃研磨清洗剂、石材研磨清洗剂、半导体研磨液等。抛光清洗剂：金属抛光清洗剂、光学抛光清洗剂、精密抛光液等。磨料清洗剂：氧化铝磨料清洗剂、碳化硅磨料清洗剂、金刚石磨料清洗剂等。精密清洗剂：电子精密清洗剂、光学器件清洗剂、半导体清洗剂等。工业清洗剂：金属脱脂清洗剂、机械零件清洗剂、模具清洗剂等。

检测项目

晶粒度测定、平均粒径测量、粒径分布分析、粒度分布宽度、中位径D50测定、特征粒径D10/D90、比表面积测定、颗粒形貌观察、晶体结构分析、颗粒计数、团聚体检测、分散性测试、悬浮稳定性测试、沉降特性分析、粒度均匀性评定等。

检测仪器(部分)：

激光粒度分析仪，激光衍射粒度仪，动态光散射粒度仪，显微镜图像分析系统，扫描电子显微镜，比表面积分析仪，沉降粒度仪，电阻法计数器等。

检测方法(部分)：

激光衍射法：利用激光照射颗粒产生的衍射图样计算粒径分布，适用于亚微米至毫米级颗粒测量。常用设备有激光粒度分析仪、马尔文粒度仪。

动态光散射法：测量颗粒布朗运动引起的散射光强度涨落，适用于纳米级颗粒测量。常用设备有动态光散射粒度仪、Zetasizer。

显微镜图像分析法：通过显微镜观察颗粒形貌，利用图像分析软件测量粒径。常用设备有光学显微镜、图像分析系统。

沉降法：利用颗粒在液体中的沉降速度与粒径的关系测定粒径分布。常用设备有沉降粒度仪、离心粒度仪。

参考标准

GB/T 19077-2016 粒度分析 激光衍射法

GB/T 19627-2005 粒度分析 光子相关光谱法

ISO 13320:2009 粒度分析 激光衍射法

GB/T 15445.1-2020 粒度分析结果的表述 第1部分：图形表征

ISO 9277:2010 通过气体吸附测定固态物质的比表面积

GB/T 19587-2017 气体吸附BET法测定固态物质比表面积

GB/T 29022-2012 粒度分析 动态图像分析法

GB/T 21780-2008 粒度分析 重力沉降法

ISO 13319:2007 粒度分析 电阻区带感应法

GB/T 20000.4-2009 标准化工作指南 第4部分：标准中涉及安全的内容

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

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