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高新技术企业证书
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微波等离子体沉积均匀性测试

原创
发布时间:2025-08-12 10:03:05
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检测项目

厚度均匀性:

  • 平均厚度偏差:厚度偏差率≤5%(参照ISO14644-1)
  • 厚度变化率:CV值≤3%
成分分布均匀性:
  • 元素浓度偏差:碳含量偏差±0.5at%,氧含量偏差±0.3at%(参照ASTME1508)
  • 掺杂均匀性:硼掺杂浓度变化≤1%
表面形貌均匀性:
  • 表面粗糙度:Ra≤10nm,Rz≤50nm
  • 缺陷密度:针孔密度≤5个/cm²
光学性能均匀性:
  • 透射率偏差:可见光透射率变化±2%
  • 反射率一致性:反射率偏差≤1%
电学性能均匀性:
  • 电阻率分布:方阻偏差±5Ω/sq
  • 介电常数均匀性:介电常数变化≤0.5
粘附力均匀性:
  • 剥离强度:平均剥离力≥10N/cm
  • 划痕测试临界载荷:LC≥20N
硬度均匀性:
  • 显微硬度:HV0.01值偏差±5%
  • 纳米压痕模量:模量变化≤3GPa
应力分布:
  • 残余应力:应力值偏差±50MPa
  • 热应力均匀性:热循环后应力变化≤10%
孔隙率分布:
  • 孔隙密度:孔隙率≤0.1%
  • 孔径分布:最大孔径≤50nm
热稳定性均匀性:
  • 热失重:失重率偏差±0.5mg/cm²
  • 热膨胀系数:CTE变化≤1ppm/°C

检测范围

1.半导体晶圆:硅基或GaAs基材,重点检测厚度均匀性和电学性能一致性,确保器件级膜层质量

2.玻璃基板:用于光学涂层,侧重透射率和反射率均匀性测试,防止雾度和色差

3.金属基板:不锈钢或铝合金,检测粘附力和硬度均匀性,避免涂层剥落

4.陶瓷基板:氧化铝或氮化硅,聚焦孔隙率和热稳定性,保证高温应用可靠性

5.聚合物基板:聚酰亚胺或PET,重点表面形貌和应力分布,防止变形和开裂

6.光学透镜:石英或熔融硅,检测光学性能均匀性,优化成像精度

7.太阳能电池:硅基光伏板,侧重电阻率和成分分布,提升能效均匀性

8.显示器面板:ITO涂层玻璃,测试电学性能和透射率,确保显示均匀

9.医疗器械涂层:钛合金植入物,检测硬度和生物相容性均匀性,符合医疗标准

10.航空航天部件:碳纤维复合材料,聚焦热稳定性和应力分布,保障极端环境性能

检测方法

国际标准:

  • ISO14644-1洁净室悬浮粒子浓度测试(用于厚度偏差测试)
  • ASTME1508-12标准指南用于元素分布分析(精度±0.1at%)
  • ISO4287表面粗糙度测量方法(Ra参数定义)
  • ASTMD1003透明塑料透光率测试(透射率测量)
  • ISO14577金属材料硬度和材料参数仪器化压痕测试(纳米压痕法)
国家标准:
  • GB/T23453-2019涂层厚度测量方法(厚度偏差率定义)
  • GB/T17359-2012电子探针显微分析元素分布(精度±0.2at%,较ISO略低)
  • GB/T1031-2009表面粗糙度参数及数值(Ra参数与ISO一致)
  • GB/T2410-2008透明塑料透光率和雾度测定(透射率测量方法)
  • GB/T4340.1-2009金属维氏硬度试验(硬度测试方法差异)
方法差异说明:国际标准如ASTME1508采用更高精度探头,而GB/T17359使用国产设备分辨率较低;ISO4287与GB/T1031表面粗糙度参数一致,但GB标准简化了测量点密度。

检测设备

1.椭偏仪:J.A.WoollamM-2000型(波长范围190-1700nm,精度±0.1nm)

2.扫描电子显微镜:HitachiSU8010型(分辨率0.8nm,加速电压0.5-30kV)

3.X射线衍射仪:BrukerD8ADVANCE型(角度范围0-160°,精度±0.0001°)

4.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon型(扫描范围90μm,分辨率0.1nm)

5.表面轮廓仪:KLATencorP-7型(垂直分辨率0.01nm,扫描长度50mm)

6.分光光度计:PerkinElmerLambda950型(波长范围175-3300nm,精度±0.08%)

7.四探针电阻仪:LucasLabsS302-4型(测量范围0.001-100kΩ/sq,精度±0.5%)

8.纳米压痕仪:AgilentG200型(载荷范围0.1-500mN,位移分辨率0.01nm)

9.热分析仪:NetzschSTA449F3型(温度范围-150-1650°C,精度±0.1°C)

10.划痕测试仪:CSMInstrumentsRevetest型(载荷范围0-200N,临界载荷检测)

11.透射电子显微镜:FEITecnaiG2F20型(分辨率0.14nm,加速电压200kV)

12.能谱仪:OxfordInstrumentsX-MaxN型(元素检测限0.1at%,能量分辨率129eV)

13.激光共聚焦显微镜:OlympusLEXTOLS5000型(Z轴分辨率1nm,放大倍数10800x)

14.热膨胀仪:LinseisL75/2300型(温度范围-160-2300°C,CTE精度±0.05ppm/°C)

15.气体吸附分析仪:MicromeriticsASAP2460型(孔径范围0.35-500nm,孔隙率精度±0.01%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

合作客户(部分)

1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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