无源器件加速老化测试

检测项目

1.环境适应性测试：高温存储测试、低温存储测试、温度循环测试、湿热测试、盐雾测试、低气压测试、正弦振动测试、随机振动测试、机械冲击测试、自由跌落测试、太阳辐射测试、淋雨测试、砂尘测试、霉菌测试、臭氧测试、混合气体腐蚀测试、硫化氢测试、二氧化硫测试、氮氧化物测试、氯气测试等。

2.电性能加速老化测试：高温反向偏压测试、高温栅偏压测试、电迁移测试、时间依赖介质击穿测试、热载流子注入测试、负偏压温度不稳定性测试、电压加速测试、电流加速测试、频率加速测试、功率循环测试、绝缘电阻老化、介质耐压老化、电容值漂移测试、电感值变化测试、电阻值稳定性测试、介电常数变化、损耗角正切漂移、品质因数退化、谐振频率偏移、阻抗特性衰减等。

3.热性能测试：热阻测试、热传导系数测试、比热容测试、热扩散系数测试、高温工作寿命测试、低温工作寿命测试、热循环测试、热冲击测试、热稳定性测试、热疲劳测试、热老化测试、温度系数测量、散热性能测试、热失效分析、热仿真验证、热蔓延测试、热失控测试、热膨胀匹配测试、热应力分析、热循环耐久性等。

4.机械应力加速测试：恒定加速度测试、机械冲击测试、振动疲劳测试、弯曲测试、扭曲测试、拉伸测试、压缩测试、剪切测试、硬度测试、耐磨测试、疲劳寿命测试、蠕变测试、应力松弛测试、微动磨损测试、封装完整性测试、引线键合强度测试、焊点可靠性测试、封装抗裂测试、材料脆性测试、冲击韧性测试等。

5.化学与环境腐蚀测试：酸碱溶液浸泡测试、溶剂抵抗测试、氧化测试、还原测试、电解腐蚀测试、离子迁移测试、枝晶生长测试、材料降解测试、表面腐蚀测试、电化学迁移测试、金属化层腐蚀、聚合物老化、密封材料降解、涂层剥落测试、助焊剂残留腐蚀、污染物诱导失效、气氛腐蚀测试、液态污染物测试、固态污染物测试、生物降解测试等。

6.寿命与可靠性测试：加速寿命测试、耐久性测试、平均无故障时间估算、失效分布分析、威布尔分析、寿命预测模型、激活能计算、阿伦尼乌斯模型应用、艾林模型应用、退化轨迹分析、失效物理分析、可靠性增长测试、筛选测试、老化筛选、退役测试、失效率计算、置信区间分析、加速因子确定、应力水平设计、数据外推方法等。

7.封装与材料测试：封装气密性测试、内部水汽含量测试、键合强度测试、芯片剪切测试、引线拉力测试、封装树脂固化度测试、玻璃化转变温度测试、热膨胀系数测试、材料成分分析、界面结合力测试、涂层附着力测试、密封性能测试、防潮等级测试、抗溶剂性测试、紫外线老化测试、射线辐照测试、等离子体处理测试、表面能测试、粗糙度测试、孔隙率测试等。

8.信号完整性测试：插入损耗测试、回波损耗测试、串扰测试、阻抗匹配测试、群延迟测试、相位噪声测试、抖动测试、谐波失真测试、互调失真测试、噪声系数测试、带宽测试、上升时间测试、过冲测试、振铃测试、眼图测试、误码率测试、时序分析、信号反射测试、传输线效应测试、匹配网络性能等。

9.电磁兼容性相关测试：辐射发射测试、传导发射测试、辐射抗扰度测试、传导抗扰度测试、静电放电测试、电快速瞬变脉冲群测试、浪涌冲击测试、电压暂降测试、短时中断测试、谐波电流测试、磁场抗扰度测试、电场抗扰度测试、电磁场辐射测试、屏蔽效能测试、接地连续性测试、共模干扰测试、差模干扰测试、电磁脉冲测试、射频干扰测试、天线耦合测试等。

10.微观结构与失效分析：扫描电子显微镜分析、透射电子显微镜分析、X射线衍射分析、能谱分析、俄歇电子能谱分析、二次离子质谱分析、原子力显微镜分析、聚焦离子束分析、热重分析、差示扫描量热分析、动态机械分析、红外光谱分析、拉曼光谱分析、X射线光电子能谱分析、失效点位定位、断面分析、晶相分析、缺陷检测、成分分布图、三维重构等。

11.工艺与制造缺陷测试：焊接点可靠性测试、焊料爬升测试、虚焊检测、空洞检测、晶粒缺陷检测、薄膜厚度测量、线宽测量、对准精度测试、污染度测试、颗粒计数测试、表面粗糙度测试、清洁度测试、残留物分析、应力测试、工艺窗口验证、蚀刻均匀性测试、沉积速率测试、掺杂浓度测试、界面态密度测试、漏电路径分析等。

12.应用场景模拟测试：高温高湿偏压测试、温度湿度偏压测试、高加速寿命测试、高加速应力筛选、复合应力测试、顺序应力测试、同步应力测试、工况模拟测试、负载循环测试、开关循环测试、脉冲负载测试、瞬态响应测试、稳态工作测试、动态工作测试、极端环境模拟、车载环境测试、航空航天环境测试、工业环境测试、医疗环境测试、消费电子环境测试等。

13.安全性与合规性测试：绝缘强度测试、接地电阻测试、漏电流测试、防火测试、阻燃测试、毒性气体释放测试、烟雾密度测试、材料可燃性测试、环境物质检测、重金属含量测试、卤素含量测试、多环芳烃测试、邻苯二甲酸酯测试、挥发性有机化合物测试、回收兼容性测试、生态设计测试、有害物质限制、废弃物处理测试、可持续发展指标、法规符合性验证等。

14.校准与计量测试：标准器校准、测试系统验证、测量不确定度测试、重复性测试、再现性测试、线性度测试、灵敏度测试、分辨率测试、精度测试、稳定性测试、漂移测试、溯源链确认、国际单位制符合性、校准周期确定、设备维护验证、参考物质使用、比对试验、能力验证、测量审核、质量控制图等。

15.数据管理与分析：测试数据采集、实时监控、趋势分析、统计分析、数据挖掘、机器学习应用、预测模型构建、报告生成、数据库管理、数据可视化、异常检测、根因分析、质量控制系统、可靠性数据库、生命周期数据管理、云平台集成、物联网接口、自动化脚本、算法优化、大数据处理等。

检测范围

固定电阻器、可变电阻器、热敏电阻、压敏电阻、陶瓷电容器、电解电容器、薄膜电容器、绕线电感器、片式电感器、变压器、滤波器、谐振器、磁珠、放电管、继电器、连接器、开关、传感器、天线、衰减器。

检测方法/标准

国际标准：

IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、IEC 60068-2-14、IEC 60068-2-30、IEC 60068-2-38、IEC 60068-2-78、IEC 60068-2-11、IEC 60068-2-27、IEC 60068-2-6、IEC 60068-2-64、IEC 60115-1、IEC 60384-1、IEC 60950-1、IEC 61000-4-2、IEC 61000-4-3、IEC 61000-4-4、IEC 61000-4-5、IEC 61967-1、IEC 62132-1、IEC 62326-1

国家标准：

GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.10、GB/T 2423.17、GB/T 2423.18、GB/T 2423.22、GB/T 2423.34、GB/T 2423.50、GB/T 2423.56、GB/T 2423.58、GB/T 2691、GB/T 2693、GB/T 7332、GB/T 10193、GB/T 10194、GB/T 17737.1、GB/T 17626.2、GB/T 17626.3、GB/T 17626.4、GB/T 17626.5

检测设备

1.高低温试验箱：用于模拟高温和低温环境，进行存储测试和工作测试；温度范围从零下70摄氏度至零上180摄氏度，控制精度高，可编程温度曲线，具备快速温变功能，适用于长期老化试验。

2.湿热试验箱：提供恒温恒湿环境，进行湿热老化测试；温度范围零下40摄氏度至零上150摄氏度，湿度范围20%至98%相对湿度，可进行冷凝测试，支持循环湿度控制。

3.温度冲击试验箱：用于快速温度变化测试，模拟热冲击条件；两箱法或三箱法，转换时间短，温度范围广，可设置驻留时间和循环次数，适用于封装可靠性测试。

4.振动试验台：进行正弦振动、随机振动和冲击测试；频率范围从5赫兹至3000赫兹，加速度可达100克，配备控制与数据采集系统，支持多轴振动模拟。

5.盐雾试验箱：模拟海洋或工业大气腐蚀环境，进行盐雾测试；可控制盐溶液浓度、温度和喷雾量，符合中性盐雾、醋酸盐雾等测试要求，具备自动补水功能。

6.绝缘电阻测试仪：测量器件绝缘电阻和介质耐压；高压输出可达5000伏特，漏电流测量精度高，具备计时和报警功能，支持直流和交流测试模式。

7.LCR测试仪：测量电感、电容、电阻等参数；频率范围从20赫兹至30兆赫兹，基本精度高，可进行等效电路分析，具备温度补偿和自动校准功能。

8.老化试验台：用于电应力加速老化测试，如高温反向偏压、功率循环等；可编程电压、电流源，多通道并行测试，实时监测参数变化，集成温度控制单元。

9.热成像仪：非接触式温度测量，用于热分布分析和热点检测；红外分辨率高，温度灵敏度优于0.05摄氏度，支持实时图像和数据分析，具备软件处理功能。

10.扫描电子显微镜：进行微观结构观察和失效分析；高真空环境，放大倍数可达数十万倍，配备能谱仪用于成分分析，支持二次电子和背散射电子成像。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.