陶瓷导电分析

检测范围

氧化铝陶瓷、氧化锆陶瓷、压电陶瓷、半导体陶瓷、电子陶瓷、功能陶瓷、结构陶瓷、绝缘陶瓷、导电陶瓷、介电陶瓷、铁电陶瓷、热敏陶瓷、压敏陶瓷、气敏陶瓷、湿敏陶瓷、陶瓷电容器、陶瓷基板、陶瓷封装材料、陶瓷薄膜、陶瓷复合材料等。

检测项目

电阻率测定、体积电阻率测试、表面电阻率测定、电导率分析、介电常数测试、介电损耗测定、击穿强度测试、绝缘电阻测定、导电性能分析、温度对导电性影响、湿度对导电性影响、介电强度测试、极化特性分析、介电频谱分析等。

检测仪器(部分)：

高阻计，阻抗分析仪，LCR测试仪，介电常数测试仪，击穿电压测试仪，电阻率测试仪等。

检测方法(部分)：

四探针法：使用四探针测试仪测量陶瓷材料的电阻率，适用于半导体陶瓷和导电陶瓷的电性能测定。常用的设备有四探针测试仪和电阻率测试仪。

介电频谱法：在不同频率下测量陶瓷的介电常数和介电损耗，分析介电性能随频率的变化。常用的设备有阻抗分析仪和LCR测试仪。

绝缘电阻法：测定陶瓷材料在规定条件下的体积电阻和表面电阻，评价绝缘性能。常用的设备有高阻计。

击穿强度法：在陶瓷样品上施加逐渐升高的电压，测定发生击穿时的电压值，计算击穿强度。常用的设备有击穿电压测试仪。

参考标准

GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料

GB/T 5594.1-2017 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法

GB/T 2413-2008 压电陶瓷材料性能测试方法

GB/T 3389-2008 压电陶瓷材料性能测试方法

GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法

GB/T 1410-2006 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

GB/T 1408.1-2016 绝缘材料电气强度试验方法

JC/T 2177-2013 氧化铝陶瓷衬板

ASTM D257-2014 绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法

IEC 60672-1:2019 陶瓷和玻璃绝缘材料

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

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