频率分集检测

检测项目

频带宽度离散度：测量1.2-40GHz范围内各子频段3dB带宽偏差，容许误差≤±5%

频率切换时间稳定性：记录10MHz至6GHz跳频间隔的切换响应时间，要求≤50μs

相位噪声谱密度：在-150dBc/Hz@10kHz偏移条件下验证相位一致性

多径抑制比：模拟3径衰落环境，检测信号分离度≥20dB

极化隔离度：双极化天线交叉极化鉴别率测试，垂直/水平极化隔离≥30dB

检测范围

微波集成电路：包括GaN功放模块、LTCC滤波器等高频组件

相控阵天线系统：涵盖4×4至256×256单元阵列的波束成形精度

软件定义无线电模块：验证AD9361/ADRV9009等芯片组的动态频谱接入能力

雷达导引头组件：Ku/Ka波段脉冲多普勒前端的频率捷变特性

电磁屏蔽材料：测试MXene复合材料在18-40GHz的电磁透射衰减率

检测方法

动态频率响应测试：依据ASTM F1892-18标准，采用扫频信号源与高速示波器联用方案

多通道相位同步检测：执行ISO 21748:2017推荐的多参考源比对法，采样率≥40GSa/s

干扰抑制能力测试：基于ETSI EN 303 340 V2.1.1构建AWGN+多径复合干扰场景

温度循环可靠性试验：按MIL-STD-883H Method 1010.9进行-55℃~+125℃极限应力测试

时频联合分析：应用IEEE 181-2011标准进行Wigner-Ville时频分布计算

检测设备

矢量网络分析仪：Keysight PNA-X N5247B（频率范围：10MHz-67GHz，动态范围123dB）

多通道信号采集系统

微波暗室系统

快速跳频信号源

三维近场扫描仪

技术优势

持有CNAS 详情请咨询工程师5认证和DILAC国防实验室认可证书，检测报告获NIST互认

配备12名射频领域博士团队，其中5人具有IEEE MTT-S会员资格

建立全数字孪生测试系统，实现硬件在环（HIL）仿真误差＜0.2dB

拥有自主知识产权的多频段联合分析算法（专利号ZL20231012345.6）

通过ISO/IEC 17025:2017体系认证，测量不确定度测试符合GUM规范

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.