氢触媒吸附检测

检测项目

比表面积测定：采用BET法测量0.05-1.0 nm²/g精度范围，分析材料有效吸附位点

孔隙结构分析：孔径分布检测（0.35-500 nm）、孔容测定（±0.01 cm³/g误差）

吸附等温线测试：77K低温下氢吸附量测量，压力范围0-100 bar

热稳定性测试：程序升温脱附（TPD）分析200-800℃脱附峰特征

化学组成分析：XPS检测表面元素（检测限0.1at%）、FTIR表征官能团

检测范围

金属储氢材料：LaNi₅系合金、Mg基复合材料等

多孔碳材料：活性炭、碳纳米管、石墨烯基吸附剂

沸石分子筛：13X、5A等孔径规格的晶体材料

金属有机骨架（MOFs）：ZIF-8、MIL-101等拓扑结构材料

复合催化剂载体：Al₂O₃/SiO₂混合载体、核壳结构材料

检测方法

静态容量法：依据ASTM D3663-20测定微孔材料比表面积

高压重量法：参照ISO 15901-2:2022进行高压氢吸附分析

动态化学吸附：执行ASTM C1274-18程序化表面活性测试

同步辐射表征：采用ISO 18852:2015标准进行原位XAS分析

热重-质谱联用：依据JIS K 7120测试材料热分解特性

检测设备

ASAP 2460全自动比表面仪：配备4个独立分析站，支持0.0001-1.0 P/P₀压力控制

Hiden Isochema IGA-003：20 bar高压吸附系统，温度控制精度±0.1℃

Micromeritics 3Flex 3500：三站式微孔分析仪，最小检测孔径0.35 nm

Thermo Fisher Nicolet iS50 FTIR：配备MCT/A检测器，光谱分辨率0.09 cm^-1

NETZSCH STA 449 F5 Jupiter®：同步热分析仪，最大升温速率50℃/min

技术优势

通过CNAS（注册号详情请咨询工程师）和CMA（证书编号详情请咨询工程师）双重认证

配备ISO/IEC 17025:2017认证的质量控制体系

自主开发H₂-LabExpert系统实现数据AI拟合分析

建立包含NIST SRM 1898标准物质的溯源体系

检测团队持有ACS认证材料表征工程师资质

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.