谱线展宽检测

检测项目

半高宽（FWHM）测定：测量谱线强度最大值50%处的全宽度，精度要求±0.02 nm（可见光波段）

峰位移分析：检测中心波长偏移量，分辨率需达0.001 cm⁻¹（拉曼光谱）

洛伦兹/高斯线型拟合：计算线型对称度参数，拟合优度R²＞0.995

背景噪声比测定：信噪比检测范围40-120 dB，动态范围覆盖10⁶量级

温度展宽系数计算：热致展宽测量温度范围-196℃~1200℃，控温精度±0.5℃

检测范围

检测方法

国际标准：

ASTM E275-08(2022)《光谱仪性能验证标准》

ISO 15470:2017《X射线光电子能谱法-谱线展宽测量》

IEC 61207-6:2014《气体分析仪性能-拉曼光谱法》

国家标准：

GB/T 32270-2015《分光光度法通则》

GB/T 36082-2018《纳米材料拉曼光谱检测规范》

GB/T 24578-2019《硅片表面金属污染全反射X射线荧光测试方法》

检测设备

高分辨率光谱仪（Horiba LabRAM HR Evolution）

1800 gr/mm光栅配置，光谱分辨率0.35 cm⁻¹，配备532/633/785 nm多波长激光源

X射线光电子能谱仪（Thermo Scientific K-Alpha）

微聚焦X射线源（30-400 μm可调），能量分辨率≤0.5 eV，配备单色化Al Kα辐射源

傅里叶变换红外光谱仪（Bruker Vertex 70）

光谱范围8000-350 cm⁻¹，分辨率优于0.2 cm⁻¹，配置液氮冷却MCT检测器

时间分辨荧光光谱仪（Edinburgh Instruments FLS1000）

时间分辨率达25 ps，光谱范围200-5500 nm，配备TCSPC模块

原子吸收光谱仪（PerkinElmer PinAAcle 900T）

石墨炉检测限0.01 ppb，火焰法精密度RSD＜0.5%，标配背景校正系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.