普朗克定律检测

检测项目

光谱辐射亮度测定（温度范围：300-3000K，波长范围：0.2-25μm）

黑体辐射温度特性验证（温度精度：±0.5K，重复性≤0.2%）

材料发射率测定（ε测量精度：±0.01，角度偏差≤2°）

波长-能量分布曲线拟合（拟合残差≤0.5%）

辐射功率密度标定（功率范围：1μW/cm²-10kW/cm²）

检测范围

红外光学材料（锗、硫化锌、硒化锌等）

高温涂层材料（陶瓷基复合涂层、热障涂层）

半导体器件（LED芯片、光电探测器）

热工仪表（辐射测温仪、红外热像仪）

发光材料（荧光粉、量子点薄膜）

检测方法

ASTM E423-17 非室温黑体辐射源校准方法

ISO 18566:2017 红外辐射源光谱特性测试

GB/T 26185-2010 辐射温度计检定规程

ISO 9288:2022 热辐射物性参数测定规范

GB/T 17683.1-1999 太阳辐射光谱测量方法

检测设备

傅里叶变换红外光谱仪（Thermo Scientific Nicolet iS50，光谱分辨率0.09cm⁻¹）

高稳定性黑体辐射源（CI Systems SR-800N，温度范围200-3000℃）

绝对辐射计（Bentham PVE300，波长覆盖200-2500nm）

高温发射率测量系统（Surface Optics SOC-100H，温度精度±1℃）

激光功率计（Ophir Vega 30A-SH，功率量程10nW-30W）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.