三元图检测

检测项目

三元组分比例测定：精度±0.05wt%（XRF/EDS）

相变温度检测：范围-196°C~1600°C（DSC/TGA）

晶界能分布分析：分辨率≤10nm（EBSD）

共晶/包晶反应点标定：温度误差≤±1.5°C

亚稳相含量检测：检出限0.3vol%（XRD定量分析）

检测范围

金属三元合金：Al-Si-Mg铸造合金、Ti-Al-V航空材料等

陶瓷三元体系：ZrO2-Al2O3-Y2O3热障涂层材料

高分子复合材料：PP/PE/EPDM共混体系

半导体材料：GaAs-InP-SiC异质结构

地质矿物：CaCO3-MgCO3-FeCO3沉积岩体系

检测方法

成分分析：ASTM E1251（XRF）、GB/T 20123（ICP-OES）

相结构表征：ISO 20283（XRD）、GB/T 13298（金相分析）

热力学检测：ASTM E967（DSC）、ISO 11357-3（TGA）

显微组织分析：ASTM E3（制样）、ISO 643（晶粒度测定）

表面能谱测试：ISO 22309（SEM-EDS定量）

检测设备

X射线荧光光谱仪：理学ZSX Primus IV，测量范围Be-U

场发射扫描电镜：蔡司Sigma 500，分辨率0.8nm@15kV

X射线衍射仪：布鲁克D8 Advance，角度重复性±0.0001°

差示扫描量热仪：耐驰DSC 214 Polyma，温度精度±0.1°C

电子背散射衍射系统：牛津仪器Symmetry S2，采集速度>3000点/秒

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.