检测项目
汞滴形成时间:0.5-2.0秒/滴(±0.05秒误差)
阴极电流密度范围:0.1-10 mA/cm²(分10个梯度测试)
极化曲线斜率:-120至-200 mV/dec(扫描速率5 mV/s)
汞纯度检测:≥99.9995%(ICP-OES法)
电极表面汞膜均匀性:厚度偏差≤5%(SEM-EDS分析)
检测范围
汞齐合金电极(锌汞齐、镉汞齐等)
工业电解槽阴极组件
实验室级滴汞电极系统
电化学传感器敏感元件
贵金属电沉积用涂层电极
检测方法
ASTM E2919-22:汞滴形成动力学特性测试
ISO 2176:2019:汞基电极极化曲线测定规范
GB/T 22345-2008:汞齐阴极电流效率测试方法
ISO 17234-2:2021:电极表面汞膜厚度XRF检测
GB 5009.17-2021:汞含量ICP-MS检测法
检测设备
CHI760E电化学工作站:支持恒电位/恒电流模式,最大输出±10V/±2A
Keyence VHX-7000数字显微镜:5000倍超景深观测汞滴形态
Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES:检测汞纯度(检出限0.1ppb)
Rigaku ZSX Primus IV XRF:汞膜厚度无损检测(精度±0.05μm)
Gamry Reference 3000AE:支持三电极体系极化测试(阻抗分辨率1μHz)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。