带包式电容锥检测

检测项目

绝缘电阻测试：DC 5000V下≥5000MΩ·m

电容值偏差：额定值±3%范围内

局部放电量：1.5倍额定电压下≤10pC

介质损耗因数（tanδ）：50Hz下≤0.005

工频耐压试验：35kV/5min无击穿闪络

检测范围

高压电缆附件用复合绝缘电容锥

GIS设备环氧树脂浇注式电容锥

油浸式电力电容器多层包绕结构

干式套管用硅橡胶复合电容锥

特高压换流阀用分级绝缘电容锥

检测方法

GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数试验方法

IEC 60270:2000 局部放电测量标准

ASTM D150-11 固体电绝缘材料AC损耗特性标准试验方法

GB/T 7354-2018 局部放电测量技术导则

DL/T 596-2021 电力设备预防性试验规程

检测设备

HIOKI IR3455高压绝缘电阻测试仪：DC 1000V~5000V可调，精度±1.5%rdg±5dgt

OMICRON CPC100多频介质分析仪：10mHz~400Hz频响分析，tanδ分辨率0.0001

PDCheck2局部放电检测系统：带宽20kHz~30MHz，灵敏度0.1pC

HIPOTRONICS ACW-100kV工频耐压装置：输出容量20kVA，电压稳定度±1%

Tettex 2924智能电桥：C测量范围1pF~100μF，基本精度±0.05%

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.