检测项目
电气特性检测：
- 灵敏度：±0.5mV/Gs（参照IEC60747-13）
- 偏移电压：≤10mV（工作温度-40°C至85°C）
- 响应时间：≤10µs（磁场变化速率1kGs/s）
温度特性检测：
- 热漂移：偏移变化率±0.02%/°C
- 工作温度范围：-40°C至150°C（线性度误差≤1%）
- 温度系数：灵敏度变化±0.1%/°C（参照AEC-Q100）
机械特性检测：
- 冲击测试：50g峰值加速度（半正弦波，11ms，参照MIL-STD-810H）
- 振动测试：10Hz至2000Hz频率范围（振幅0.15mm，RMS值）
可靠性测试：
- 寿命试验：1000小时老化（85°C/85%RH，失效率≤1%）
- 循环耐久性：100万次开关周期（开关型传感器）
噪声特性检测：
- 输出噪声：≤1mVRMS（1Hz至10MHz带宽）
- 信噪比：≥60dB（标准磁场条件下）
线性度检测：
- 线性误差：≤0.5%F.S.（磁场范围±500Gs）
- 非线性度：≤±1%（磁场扫描速率0.1Gs/s）
磁场范围检测：
- 动态范围：±2000Gs（饱和点检测）
- 磁场分辨率：0.1Gs（最小可测场强）
电源特性检测：
- 电源抑制比：≥60dB（5V±10%变化）
- 静态功耗：≤1mW（待机模式）
封装测试：
- 密封性测试：IP67等级（水密性验证）
- 热阻测试：结-环境热阻≤50°C/W（稳态热分析）
EMC测试：
- 辐射发射：≤30dBµV/m（30MHz至1GHz，参照CISPR25）
- 抗扰度测试：10V/m场强（80MHz至6GHz）
检测范围
1.线性霍尔传感器：用于磁场强度测量，重点检测灵敏度和线性度，确保输出电流/电压与场强成正比关系。
2.开关型霍尔传感器：应用于位置探测，侧重开关阈值和响应时间测试，验证动作点稳定性。
3.霍尔集成电路：集成信号处理电路，强调噪声抑制和电源特性检测。
4.霍尔电流传感器：用于电流监测，优先检测隔离耐压和磁场动态范围。
5.霍尔位置传感器：在旋转编码中应用，聚焦角度精度和温度漂移补偿验证。
6.霍尔编码器：用于运动控制，重点测试分辨率重复性和机械耐久性。
7.霍尔模块：复合传感器系统，检测接口兼容性和EMC特性。
8.汽车用霍尔传感器：满足AEC-Q100标准，侧重环境耐久性和可靠性测试。
9.工业用霍尔传感器：适应严苛环境，强调冲击振动耐受度和长期寿命验证。
10.消费电子霍尔传感器：小型化设计，检测功耗优化和封装密封性。
检测方法
国际标准：
- IEC60747-13：2021半导体霍尔效应器件测试方法
- ISO7637-2：2020道路车辆电气干扰抗扰度测试
- AEC-Q100：2019汽车电子元件可靠性验证
- IEEEStd181：2011直流磁性测量方法
- EN61000-4-3：2020辐射射频电磁场抗扰度测试
国家标准：
- GB/T12345-2021霍尔传感器电气参数测试方法
- GB/T2423-2016电工电子产品环境试验方法
- GB/T17626-2018电磁兼容抗扰度试验
- GB/T18655-2018车辆电磁兼容性要求
- GB/T34985-2017霍尔效应器件可靠性试验方法
（方法差异：国际标准如IEC60747-13要求磁场校准精度0.1%，GB/T12345-2021则采用0.2%精度基准；温度测试中，ISO7637-2规定-40°C至150°C范围，GB/T2423-2016扩展至165°C上限。）
检测设备
1.高斯计：F.W.BELL7030型（磁场范围±3000Gs，精度±0.25%）
2.温度箱：ESPECPSL-3KPH（温度范围-70°C至180°C，稳定性±0.5°C）
3.振动测试台：LDSV960（频率范围5Hz至3000Hz，最大加速度100g）
4.冲击测试机：MTS831（峰值加速度500g，脉冲宽度0.5ms至20ms）
5.电源供应器：KEITHLEY2230G-30-1（输出电压0-30V，电流0-3A，精度±0.02%）
6.示波器：KEYSIGHTDSOX6004A（带宽6GHz，采样率20GSa/s）
7.万用表：KEITHLEYDMM7510（电压精度±0.0015%，电阻范围0.1Ω至100MΩ）
8.频谱分析仪：R&SFSW67（频率范围2Hz至67GHz，动态范围100dB）
9.恒温槽：JJianCeABOF25（温度控制±0.01°C，容量25L）
10.湿度箱：TENNEYBTRS（湿度范围10%至98%RH，温度范围-40°C至150°C）
11.噪声测量系统：B&KPJianCeSE（频率范围0.1Hz至80kHz，动态范围120dB）
12.EMC测试设备：EMTESTUCS500N（场强范围1V/m至200V/m，频率80MHz至6GHz）
13.老化测试箱：ATLASXR340（温度85°C，湿度85%，可编程循环）
14.封装测试仪：DAGE4000（密封性测试压力0-100psi，泄漏率检测）
15.数据采集系统：NIPXIe-1082（采样率500kS/s，通道数64位
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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荣誉资质
研究院地址
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