检测项目
电气特性检测:
- 灵敏度:±0.5mV/Gs(参照IEC60747-13)
- 偏移电压:≤10mV(工作温度-40°C至85°C)
- 响应时间:≤10µs(磁场变化速率1kGs/s)
温度特性检测:
- 热漂移:偏移变化率±0.02%/°C
- 工作温度范围:-40°C至150°C(线性度误差≤1%)
- 温度系数:灵敏度变化±0.1%/°C(参照AEC-Q100)
机械特性检测:
- 冲击测试:50g峰值加速度(半正弦波,11ms,参照MIL-STD-810H)
- 振动测试:10Hz至2000Hz频率范围(振幅0.15mm,RMS值)
可靠性测试:
- 寿命试验:1000小时老化(85°C/85%RH,失效率≤1%)
- 循环耐久性:100万次开关周期(开关型传感器)
噪声特性检测:
- 输出噪声:≤1mVRMS(1Hz至10MHz带宽)
- 信噪比:≥60dB(标准磁场条件下)
线性度检测:
- 线性误差:≤0.5%F.S.(磁场范围±500Gs)
- 非线性度:≤±1%(磁场扫描速率0.1Gs/s)
磁场范围检测:
- 动态范围:±2000Gs(饱和点检测)
- 磁场分辨率:0.1Gs(最小可测场强)
电源特性检测:
- 电源抑制比:≥60dB(5V±10%变化)
- 静态功耗:≤1mW(待机模式)
封装测试:
- 密封性测试:IP67等级(水密性验证)
- 热阻测试:结-环境热阻≤50°C/W(稳态热分析)
EMC测试:
- 辐射发射:≤30dBµV/m(30MHz至1GHz,参照CISPR25)
- 抗扰度测试:10V/m场强(80MHz至6GHz)
检测范围
1.线性霍尔传感器:用于磁场强度测量,重点检测灵敏度和线性度,确保输出电流/电压与场强成正比关系。
2.开关型霍尔传感器:应用于位置探测,侧重开关阈值和响应时间测试,验证动作点稳定性。
3.霍尔集成电路:集成信号处理电路,强调噪声抑制和电源特性检测。
4.霍尔电流传感器:用于电流监测,优先检测隔离耐压和磁场动态范围。
5.霍尔位置传感器:在旋转编码中应用,聚焦角度精度和温度漂移补偿验证。
6.霍尔编码器:用于运动控制,重点测试分辨率重复性和机械耐久性。
7.霍尔模块:复合传感器系统,检测接口兼容性和EMC特性。
8.汽车用霍尔传感器:满足AEC-Q100标准,侧重环境耐久性和可靠性测试。
9.工业用霍尔传感器:适应严苛环境,强调冲击振动耐受度和长期寿命验证。
10.消费电子霍尔传感器:小型化设计,检测功耗优化和封装密封性。
检测方法
国际标准:
- IEC60747-13:2021半导体霍尔效应器件测试方法
- ISO7637-2:2020道路车辆电气干扰抗扰度测试
- AEC-Q100:2019汽车电子元件可靠性验证
- IEEEStd181:2011直流磁性测量方法
- EN61000-4-3:2020辐射射频电磁场抗扰度测试
国家标准:
- GB/T12345-2021霍尔传感器电气参数测试方法
- GB/T2423-2016电工电子产品环境试验方法
- GB/T17626-2018电磁兼容抗扰度试验
- GB/T18655-2018车辆电磁兼容性要求
- GB/T34985-2017霍尔效应器件可靠性试验方法
(方法差异:国际标准如IEC60747-13要求磁场校准精度0.1%,GB/T12345-2021则采用0.2%精度基准;温度测试中,ISO7637-2规定-40°C至150°C范围,GB/T2423-2016扩展至165°C上限。)
检测设备
1.高斯计:F.W.BELL7030型(磁场范围±3000Gs,精度±0.25%)
2.温度箱:ESPECPSL-3KPH(温度范围-70°C至180°C,稳定性±0.5°C)
3.振动测试台:LDSV960(频率范围5Hz至3000Hz,最大加速度100g)
4.冲击测试机:MTS831(峰值加速度500g,脉冲宽度0.5ms至20ms)
5.电源供应器:KEITHLEY2230G-30-1(输出电压0-30V,电流0-3A,精度±0.02%)
6.示波器:KEYSIGHTDSOX6004A(带宽6GHz,采样率20GSa/s)
7.万用表:KEITHLEYDMM7510(电压精度±0.0015%,电阻范围0.1Ω至100MΩ)
8.频谱分析仪:R&SFSW67(频率范围2Hz至67GHz,动态范围100dB)
9.恒温槽:JJianCeABOF25(温度控制±0.01°C,容量25L)
10.湿度箱:TENNEYBTRS(湿度范围10%至98%RH,温度范围-40°C至150°C)
11.噪声测量系统:B&KPJianCeSE(频率范围0.1Hz至80kHz,动态范围120dB)
12.EMC测试设备:EMTESTUCS500N(场强范围1V/m至200V/m,频率80MHz至6GHz)
13.老化测试箱:ATLASXR340(温度85°C,湿度85%,可编程循环)
14.封装测试仪:DAGE4000(密封性测试压力0-100psi,泄漏率检测)
15.数据采集系统:NIPXIe-1082(采样率500kS/s,通道数64位
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。