薄片状粉末检测

检测项目

1. 粒径分布：D10≤5μm、D50=10-50μm、D90≤100μm（激光衍射法）

2. 厚度均匀性：单颗粒厚度0.1-2.0μm（SEM测量）

3. 振实密度：1.2-3.5g/cm³（霍尔流速计法）

4. 比表面积：2-20m²/g（BET氮吸附法）

5. 元素含量：金属杂质≤500ppm（ICP-OES分析）

检测范围

1. 金属薄片粉末：铝粉、铜粉、银粉等导电材料

2. 陶瓷薄片粉末：氮化硼、氧化铝等耐高温材料

3. 二维材料粉末：石墨烯、二硫化钼等纳米片层材料

4. 聚合物薄片粉末：PTFE、PE等润滑改性材料

5. 复合涂层粉末：锌铝基防腐涂料等表面处理材料

检测方法

1. ASTM B822-20 金属粉末粒度分布标准测试方法

2. ISO 13762-2001 小角X射线散射法测定粒子尺寸

3. GB/T 5162-2021 金属粉末振实密度测定方法

4. ISO 9277-2010 气体吸附BET法比表面积测定

5. GB/T 17432-2023 有色金属材料成分分析通则

检测设备

1. 马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射粒度分析仪（量程0.01-3500μm）

2. FEI Quanta FEG 650：场发射扫描电镜（分辨率1nm）

3. Micromeritics TriStar II 3020：全自动比表面分析仪（孔径0.35-500nm）

4. 赛默飞 iCAP PRO XP：电感耦合等离子体发射光谱仪（检出限ppb级）

5. Quantachrome Autotap：智能振实密度仪（振动频率250次/分钟）

6. Bruker D8 ADVANCE：X射线衍射仪（角度精度0.0001°）

7. Malvern Zetasizer Nano ZS：纳米粒度及Zeta电位分析仪（粒径0.3nm-10μm）

8. Mettler Toledo XSE105：微量天平（精度0.01mg）

9. Netzsch STA 449 F5：同步热分析仪（温度范围-150℃-2000℃）

10. Zeiss Axio Imager A2m：偏光显微镜（最大放大倍数1000×）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.