检测项目
电学性能检测：
- 击穿电压检测：击穿电压值（Vbr≥80V，参照IEC60747-5-3）、响应电流（Iresp≥10μA）
- 暗电流检测：暗电流值（Idark≤1nA）、反向漏电流（Irev≤0.5μA）
- 增益系数检测：倍增增益（M≥100）、线性范围（增益线性度±5%）
光学性能检测：- 量子效率检测：量子效率值（QE≥80%@1550nm）、光谱响应范围（300-1700nm）
- 响应带宽检测：3dB带宽（BW≥1GHz）、上升时间（tr≤0.5ns）
- 灵敏度检测：噪声等效功率（NEP≤1pW/√Hz）、探测率（D*≥10^12cm·Hz^{1/2}/W）
热学性能检测：- 温度依赖性检测：击穿电压温度系数（TCVbr≤0.1%/°C）、增益温度稳定性（ΔM/M≤±2%）
- 热阻检测：热阻值（Rth≤50K/W）、最高工作温度（Tmax≥85°C）
- 热循环测试：循环次数（1000次，温度范围-40°C至125°C）
噪声特性检测：- 噪声电流检测：散粒噪声（Inoise≤10pA/√Hz）、过剩噪声系数（F≤4）
- 信噪比检测：信噪比（SNR≥60dB）、噪声等效电荷（ENC≤100e-）
- 脉冲噪声测试：峰值噪声电压（Vnp≤10mV）
响应特性检测：- 响应时间检测：下降时间（tf≤0.5ns）、带宽响应线性度（线性偏差±3%）
- 脉冲响应检测：峰值响应电流（Ipeak≥100μA）、恢复时间（trec≤1ns）
- 线性动态范围检测：动态范围（DR≥90dB）、饱和光功率（Psat≥10dBm）
可靠性测试：- 老化寿命测试：MTTF≥10^6小时、加速老化因子（AF=2）
- 失效分析检测：失效模式（开路/短路概率≤0.1%）、失效时间分布（Weibull分布β≥2）
- 环境应力测试：温度循环试验（-55°C至150°C，500次）、湿度试验（85%RH，1000小时）
封装性能检测：- 气密性检测：泄漏率（≤1×10^{-8}atm·cc/sec）、密封强度（爆破压力≥5atm）
- 引脚强度检测：引脚拉力（≥5N）、焊接强度（剪切力≥10N）
- 封装材料检测：热膨胀系数（CTE≤10ppm/°C）、介电强度（≥500V）
环境适应性检测：- 温度冲击测试：温度变化率（≥10°C/min）、冲击次数（100次）
- 振动测试：振动频率（10-2000Hz）、位移振幅（≥1mm）
- 辐射测试：总剂量辐射（≥100krad）、单粒子效应（SEU概率≤10^{-9}）
机械性能检测：- 抗冲击测试：冲击加速度（≥1500g）、冲击持续时间（0.5ms）
- 振动疲劳检测：疲劳寿命（≥10^7cycles）、共振频率（≥2kHz）
- 弯曲强度检测：弯曲角度（≥30°）、弯曲次数（1000次）
信号处理性能检测：- 信号失真检测：谐波失真（THD≤1%）、互调失真（IMD≤-60dB）
- 信号带宽检测：有效带宽（≥500MHz）、带宽平坦度（±1dB）
- 相位噪声检测：相位抖动（≤1ps）、时间抖动（≤100fs）
检测范围
1.硅基雪崩光电二极管：涵盖PIN-APD结构，检测重点为量子效率温度依赖性及暗电流稳定性
2.锗基雪崩光电二极管：针对近红外应用，检测重点为击穿电压一致性及噪声等效功率
3.InGaAs基雪崩光电二极管：用于光纤通信，检测重点为增益带宽积及光谱响应均匀性
4.混合型APD器件：结合多种材料，检测重点为界面缺陷分析及热管理性能
5.高速响应APD模块：集成放大器电路，检测重点为响应时间线性度及信号失真控制
6.低温应用APD：适用于超导环境，检测重点为热噪声抑制及低温稳定性
7.高增益APD阵列：多像素结构，检测重点为像素均匀性及串扰抑制
8.封装后APD组件：带TO封装，检测重点为气密性验证及引脚机械强度
9.APD激光雷达传感器：用于自动驾驶，检测重点为脉冲响应精度及环境适应性
10.APD光通信接收器：集成光纤接口，检测重点为灵敏度阈值及带宽匹配性
检测方法
国际标准：
- IEC60747-5-3光电二极管测试方法（涵盖增益及暗电流测量）
- IEC62129-1光谱响应校准方法（规定量子效率测试条件）
- ISO9022-21环境试验方法（定义温度循环及湿度测试）
国家标准：- GB/T14000-2020半导体光电器件测试规范（击穿电压及噪声测量）
- GB/T15500-2018光电探测器响应特性试验（带宽及线性度测试）
- GB/T18000-2021电子器件可靠性试验方法（老化寿命及失效分析流程）
（方法差异说明：IEC标准采用恒温控制精度±0.1°C，GB标准允许±0.5°C；IEC噪声测试使用宽带频谱分析，GB标准侧重窄带测量）
检测设备
1.光源系统：OCS-LS3000型（波长范围250-1800nm，功率稳定性±0.1%）
2.光谱响应分析仪：SRA-5500型（分辨率0.1nm，精度±0.5%）
3.高精度电流源：HCS-8000型（电流范围1pA-1A，分辨率0.1pA）
4.电压击穿测试仪：VBT-700型（电压范围0-1000V，步进精度0.01V）
5.噪声测量系统：NMS-450型（频率范围10Hz-10GHz，灵敏度1fA/√Hz）
6.温度控制箱：TCB-200型（温度范围-70°C至200°C，稳定性±0.05°C）
7.时间响应分析仪：TRA-600型（时间分辨率1ps，带宽10GHz）
8.老化测试系统：ATS-900型（温度控制精度±1°C，寿命测试周期10^6小时）
9.气密性检测仪：LDT-350型（泄漏率检测下限1×10^{-9}atm·cc/sec）
10.振动试验台：VTT-550型（频率范围5-5000Hz，加速度范围0-100g）
11.辐射测试设备：RTD-400型（辐射剂量率范围0.1-100krad/h，精度±5%）
12.光学功率计：OPM-750型（功率范围10pW-10W，精度±0.2%）
13.信号发生器：SG-850型（频率范围1MHz-20GHz，相位噪声≤-120dBc/Hz）
14.机械冲击测试机：MST-300型（冲击峰值加速度2000g，持续时间0.1-10ms）
15.封装强度测试仪：PST-250型（拉力范围0-100N，位移分辨率1μm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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研究院地址
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