散射电势检测

检测项目

1. 表面电势分布：测量范围±20kV/cm²，分辨率≤0.1kV

2. 衰减时间常数：测试周期0-3600秒，精度±1%

3. 电荷密度梯度：量程0-500μC/m²，空间分辨率50μm

4. 介质击穿阈值：电压范围0-100kV DC/AC

5. 环境敏感性：温度(-40℃~150℃)/湿度(10%~95%RH)耦合测试

检测范围

1. 高分子绝缘材料：聚四氟乙烯(PTFE)、聚酰亚胺(PI)薄膜

2. 半导体晶圆：硅(Si)、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)基片

3. 功能涂层：防静电涂料、光伏背板涂层

4. 电子封装材料：环氧模塑料(EMC)、底部填充胶

5. 特种纤维材料：碳纤维复合材料、芳纶绝缘纸

检测方法

ASTM D257-14：绝缘材料直流电阻测试标准

ISO 28842:2018：半导体晶圆表面电势测量规程

GB/T 31838.5-2021：固体绝缘材料介电强度试验方法

ASTM F1711-96(2021)：静电衰减时间测量标准

GB/T 16840.4-2021：电气绝缘系统热老化测试导则

检测设备

1. Trek Model 347静电电位计：非接触式表面电位测量（±20kV）

2. Keithley 6517B静电计：10aA~20mA宽量程电流测量

3. Electro-Tech Systems Model 510电荷衰减测试系统

4. Keysight B2987A高阻计：0.01fA~10mA电流分辨率

5. Omicron Bode100频响分析仪：10μHz~40MHz阻抗分析

6. Haug ESD模拟器 ESS-2000AX：接触/空气放电模式切换

7. Thermo Scientific CIRRIS HV系列高压测试仪（AC/DC 100kV）

8. ESPEC PL-3KPH气候箱：温湿度复合环境模拟

9. Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦显微镜（120nm分辨率）

10. Agilent 4294A精密阻抗分析仪：40Hz~110MHz频率范围

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.