检测项目
1. 纯度测定:采用化学滴定法测定主成分含量(≥99.9%)
2. 水分含量:卡尔费休法测定游离水(≤0.05%)
3. 重金属残留:ICP-MS检测铅、镉等元素(≤10ppm)
4. 晶体结构分析:XRD测定晶型参数(α相/β相比例)
5. 粒度分布:激光衍射法测定颗粒D50值(5-20μm)
检测范围
1. 高纯碘化亚铊试剂(电子级/核级)
2. 半导体掺杂材料(薄膜沉积源)
3. 闪烁晶体材料(TlI:Na单晶)
4. 辐射探测器件封装材料
5. 医药中间体原料药
检测方法
1. ASTM E394-15:X射线荧光光谱法测定硫系化合物组成
2. ISO 17034:2016:标准物质均匀性验证规程
3. GB/T 223.5-2008:钢铁及合金化学分析方法
4. ISO 11885:2007:水质-电感耦合等离子体发射光谱法
5. GB/T 17473.7-2008:电子材料杂质含量测试通则
检测设备
1. Agilent 7900 ICP-MS:痕量元素定量分析(检出限0.1ppb)
2. Malvern Mastersizer 3000:激光粒度分布测试(0.01-3500μm)
3. Rigaku SmartLab X射线衍射仪:晶体结构解析(2θ范围3-140°)
4. Metrohm 899 Coulometer:库仑法水分测定(精度±0.001%)
5. PerkinElmer TGA 4000:热重分析仪(温度范围25-1000℃)
6. Shimadzu UV-2600i:紫外可见分光光度计(波长范围190-1400nm)
7. Bruker EPR EMXplus:电子顺磁共振波谱仪(磁场强度0-1.5T)
8. Mettler Toledo DSC3:差示扫描量热仪(升温速率0.02-300℃/min)
9. JEOL JSM-IT800:场发射扫描电镜(分辨率1nm@15kV)
10. Thermo Scientific iCAP RQ:三重四极杆ICP-MS(质量数范围3-290amu)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。