检测项目
1. 畴壁位移量:测量范围0.1-100nm,分辨率≤0.05nm
2. 共振频率:测试带宽10Hz-10MHz,精度±0.01%
3. 阻尼系数:量化范围α=0.001-0.1,温度依赖性测试(-196℃~300℃)
4. 相位滞后角:测量精度±0.1°,频率响应特性分析
5. 临界驱动场强:测试范围1mV/m-10kV/m,场强线性度误差≤0.5%
检测范围
1. 铁电薄膜材料(PZT、BTO基薄膜)
2. 多铁性复合材料(CoFe₂O₄/BaTiO₃异质结)
3. 磁性纳米线阵列(直径50-200nm)
4. 拓扑磁结构材料(斯格明子晶体)
5. 钙钛矿型氧化物单晶(BiFeO₃、TbMnO₃)
检测方法
1. ASTM E1876-22《铁电材料动态特性测试标准》
2. ISO 21748:2019《纳米尺度磁结构振动分析方法》
3. GB/T 22319-2023《压电材料畴壁运动特性测试规范》
4. IEC 62333-2:2020《微波频段磁振子特性测量》
5. GB/T 17626.13-2023《电磁兼容-高频信号注入法》
检测设备
1. Keysight N5245B矢量网络分析仪:10MHz-50GHz高频信号测试
2. Bruker Dimension Icon原子力显微镜:PFM模式畴壁形貌分析
3. Lake Shore 8600系列振动样品磁强计:交变磁场加载系统
4. Oxford Instruments MicrostatHe低温恒温器:80-500K变温测试
5. Zurich Instruments HF2LI锁相放大器:1mHz-50MHz相位敏感检测
6. Thorlabs HVA200高压放大器:±200V驱动电压输出
7. JEOL JEM-F200透射电镜:原位洛伦兹显微观测系统
8. Agilent 33500B函数发生器:任意波形激励信号生成
9. attocube ANPx301位移传感器:亚纳米级位移反馈控制
10. SPECS PHOIBOS 150电子能谱仪:表面电势分布测量模块
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。