检测项目
1. 涂层外径偏差:测量范围±3μm,分辨率0.1μm
2. 纤芯-涂层同心度误差:允许偏差≤0.5μm
3. 双层涂层厚度比:内层/外层厚度比1:1.5±0.2
4. 椭圆度偏差:最大允许值0.8%
5. 涂层固化均匀性:折射率变化≤0.0005
检测范围
1. G.652D标准单模通信光纤
2. OM4/OM5多模梯度折射率光纤
3. 掺铒/掺镱特种光纤
4. 抗弯曲微结构光纤
5. 高温涂层耐热光纤(工作温度≥85℃)
检测方法
1. 激光衍射法:依据ASTM D4566-14标准进行三维几何分析
2. 干涉显微术:采用ISO/IEC 60793-1-20:2014规范
3. 偏振光扫描法:执行GB/T 15972.20-2008技术要求
4. X射线断层扫描:参照IEC 60793-1-31:2018标准
5. 近场光强分布法:满足Telcordia GB-20-CORE第4.3章规定
检测设备
1. Olympus OLS5000激光共聚焦显微镜(三维形貌重建)
2. EXFO NR-9200干涉式同心度测试仪(精度±0.05μm)
3. Anritsu MF100系列光纤几何分析系统(符合ITU-T G.650.1)
4. Chroma 73612涂层椭圆度测量工作站(重复性±0.15%)
5. Luna ODiSI-B高分辨率分布式传感系统(空间分辨率10μm)
6. Yokogawa AQ2200多参数测试平台(集成ASTM D4566算法)
7. Keyence LT-9000线阵CCD测量仪(采样速率2000次/秒)
8. Thorlabs FBP系列偏振分析模块(支持GB/T 15972标准)
9. Malvern Panalytical X'Pert3 X射线衍射仪(材料结晶度分析)
10. Agilent 8703B光波导分析系统(折射率分布建模)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。