分布反馈激光二极管检测

检测项目

1. 光谱特性：中心波长偏差≤±0.1nm（1550nm波段），边模抑制比＞45dB

2. 阈值电流：典型值5-30mA（25℃），温度漂移系数≤0.1mA/℃

3. 斜率效率：0.1-0.3mW/mA（线性工作区），非线性度＜3%

4. 温度稳定性：波长温漂系数＜0.08nm/℃，功率温漂＜0.02dB/℃

5. 寿命测试：1000小时加速老化（70℃/85%RH），功率衰减＜10%

检测范围

1. InGaAsP/InP基近红外DFB激光器（1310/1550nm波段）

2. GaN基蓝光DFB激光器（405-450nm波段）

3. 硅基混合集成DFB激光模块（CWDM/DWDM应用）

4. 高速调制DFB器件（10G/25G/50Gbps速率等级）

5. 窄线宽DFB激光器（线宽＜1MHz）

检测方法

1. ASTM E2758-2018：激光二极管光谱特性测量规程

2. ISO 17526:2003：光电子器件可靠性试验通用要求

3. GB/T 31358-2015：半导体激光器测试方法

4. GB/T 15651.3-2021：半导体器件机械和气候试验方法

5. IEC 60747-5-3:2020：光电子器件光电特性测试规范

检测设备

1. 光谱分析仪：Yokogawa AQ6370D（波长范围600-1700nm，分辨率0.02nm）

2. L-I-V参数测试仪：Keysight B2902A（电流分辨率10fA，电压1μV）

3. 高低温试验箱：Espec STH-120（温度范围-40℃~150℃，精度±0.3℃）

4. 光功率计：Newport 2936-R（波长范围400-1800nm，精度±0.5%）

5. 误码率测试仪：Anritsu MP1900A（最高56Gbps信号分析）

6. 偏振分析仪：General Photonics PSD-3100（偏振消光比＞35dB）

7. 热阻测试系统：T3Ster Micred仪器（结温测量精度±1℃）

8. 振动试验台：LDS V964（频率范围5-3000Hz，最大加速度100g）

9. 近场扫描系统：Hamamatsu C10910D（空间分辨率0.5μm）

10. 老化测试系统：ILX Lightwave LDT-5940（多通道并行监测）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.