检测项目
1. 临界角精度检测:测量误差≤±0.005°,重复性RSD<0.3%
2. 折射率范围测定:覆盖1.30-2.50(@632.8nm),分辨率达0.0001
3. 全反射强度分析:动态范围70dB@1550nm波长
4. 温度依赖性测试:-20℃至80℃温控条件下折射率变化量监测
5. 偏振敏感性测试:s/p偏振光差异度≤0.2%
检测范围
1. 光学玻璃基板(K9、BK7等)表面镀膜层
2. 高分子聚合物薄膜(PET、PC等透明材料)
3. 金属镀膜材料(Au、Ag纳米涂层)
4. 半导体晶圆表面钝化层(SiO₂/SiNx堆叠结构)
5. 液晶显示面板ITO导电薄膜
检测方法
ASTM E1967-19:全反射角测定标准方法(波长范围400-2500nm)
ISO 14782:2017:透明材料折射率非接触式测量规范
GB/T 18311.3-2018:纤维光学器件基本试验第3部分:偏振特性测量
GB/T 26827-2011:光学薄膜折射率测试导则
ISO 13697:2019:激光光学元件反射率测量方法
检测设备
1. J.A. Woollam M-2000D型椭圆偏振仪:支持190-1700nm光谱范围,角度分辨率0.002°
2. Horiba IRS-3000全反射角测量系统:配备532/633/1550nm三波长激光源
3. Agilent Cary 7000全能型分光光度计:支持5°-85°入射角调节
4. Bruker Dimension Icon原子力显微镜:用于纳米级表面形貌与光学特性关联分析
5. Ocean Insight HDX-VIS-NIR光纤光谱仪:波长范围350-2500nm,积分时间1ms-10s可调
6. Thorlabs PAX1000偏振分析仪:波长精度±0.02nm,消光比测量范围60dB
7. Keysight N7788B光波元件分析仪:支持单模/多模光纤耦合测试
8. Shimadzu AIM-9000红外显微镜:搭配20×物镜实现微区灵敏角测试
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。