电荷耦合器件存储器检测

检测项目

1. 暗电流测试：测量暗电流密度（nA/cm²@25℃）、暗场均匀性（≤±3%）及温度系数（mV/℃）

2. 电荷转移效率：测试垂直/水平转移损耗率（≥99.999%）、电荷容量（e-/pixel）

3. 光电响应特性：包含量子效率（400-1100nm波段≥80%）、线性度误差（＜1%）

4. 动态范围测试：最大饱和信号（ke-）与读出噪声（＜5e- RMS）比值验证

5. 时序特性分析：像素时钟频率（10-40MHz）、帧传输时间（μs级）

检测范围

1. 科学级背照式CCD：天文观测/光谱分析用高灵敏度器件

2. 工业线阵CCD：尺寸测量/缺陷检测专用传感器

3. 消费级面阵CCD：数码相机/安防监控核心组件

4. 红外CCD器件：InGaAs材料制程的短波红外探测器

5. 抗辐射加固CCD：航天级抗总剂量（≥100krad）存储器

检测方法

1. ISO 15529:2021《光学系统调制传递函数测量》

2. ASTM F1241-22《半导体器件热特性测试规程》

3. GB/T 18905.6-2020《光电器件环境试验方法》

4. IEC 60749-25:2021《半导体器件机械冲击试验》

5. JEDEC JESD22-A104F《温度循环试验标准》

检测设备

1. Keysight B1500A半导体参数分析仪：IV/CV特性曲线测量

2. ThermoStream T-2600温度循环系统：-65℃~+150℃温变测试

3. OAI Model 236光辐射计：0.1-20W/cm²光强校准

4. Advantest T6391A时序分析仪：ns级时钟信号采集

5. Labsphere USS-2000均匀光源系统：99%空间均匀性验证

6. Keithley 4200-SCS光电测试平台：多参数同步采集系统

7. Janis ST-500低温探针台：77K~475K变温特性分析

8. Hamamatsu C11347-11光子计数单元：单光子级灵敏度检测

9. Chroma 19053-S太阳模拟器：AM1.5G光谱响应测试

10. Zeiss Axio Imager M2m显微成像系统：微米级缺陷观测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.