检测项目
1. 介电常数(εr):测量频率1kHz-1MHz,精度±0.5%
2. 损耗角正切值(tanδ):测试范围0.0001-10,分辨率0.00001
3. 体积电阻率(ρv):量程10^6-10^18 Ω·cm
4. 表面电阻率(ρs):测量电压100V-1000V
5. 介质击穿强度(Eb):测试电压AC 0-50kV DC 0-100kV
检测范围
1. 高分子材料:聚四氟乙烯(PTFE)、聚酰亚胺(PI)薄膜
2. 陶瓷材料:氧化铝(Al₂O₃)、钛酸钡(BaTiO₃)基体
3. 复合材料:玻璃纤维增强环氧树脂(FR4)
4. 半导体封装材料:EMC环氧模塑料
5. 绝缘涂层:聚对二甲苯(Parylene)镀膜
检测方法
ASTM D150-18:固体电绝缘材料交流损耗特性及介电常数标准测试
IEC 60250:测量电气绝缘材料在工频、音频、射频下介电性能
GB/T 1409-2006:测量电气绝缘材料在工频下的介电性能
ISO 62:2008:塑料吸水性的测定方法
GB/T 1693-2007:硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定
检测设备
1. Agilent E4990A阻抗分析仪:频率范围20Hz-120MHz,基本精度0.045%
2. Keysight 16451B介电测试夹具:三电极系统符合IEC 60250标准
3. HIOKI IM3536 LCR测试仪:4端对测量模式,频率DC-8MHz
4. Tettex 6294型高压测试系统:最大AC电压150kV/DC300kV
5. Netzsch DIL402C热膨胀仪:同步测定介质热膨胀系数
6. Mettler Toledo XS205电子天平:分辨率0.01mg吸水性测试称重
7. ESPEC SH-641恒温恒湿箱:温控范围-70℃~+150℃
8. FLIR A655sc红外热像仪:介质发热特性非接触式监测
9. Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪:晶体结构分析
10. TA Instruments Q800动态机械分析仪:介电弛豫谱测定
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。