畴壁能检测

检测项目

1. 畴壁宽度测量：分辨率≤0.5nm，测量范围1-100nm

2. 畴壁能量密度测定：精度±0.1μJ/m²，量程0.1-100μJ/m²

3. 畴壁迁移势垒测试：温度范围4-300K，电场强度0-10kV/cm

4. 磁弹耦合系数分析：应变分辨率1×10⁻⁶，磁场强度0-2T

5. 界面交换刚度测试：频率响应1Hz-1MHz，角度偏差≤0.1°

检测范围

1. 铁电单晶材料：铌酸锂(LiNbO₃)、钛酸钡(BaTiO₃)等钙钛矿结构晶体

2. 磁性薄膜材料：钴铂(Co/Pt)多层膜、铁钆(Fe/Gd)超晶格薄膜

3. 多铁性复合材料：BiFeO₃-CoFe₂O₄异质结、PMN-PT基磁电复合体系

4. 拓扑磁结构材料：斯格明子(Skyrmion)晶体、磁涡旋阵列体系

5. 二维范德华材料：CrI₃单层膜、Fe₃GeTe₂纳米片等新型低维体系

检测方法

1. ASTM E3060-16：铁电材料畴壁动态特性原位测试规程

2. ISO 21771:2020：磁性薄膜界面能量密度洛伦兹显微术测定法

3. GB/T 38723-2020：铁性材料畴结构电子全息表征方法

4. ISO 19860:2019：扫描探针显微镜法测量纳米尺度畴壁宽度

5. GB/T 39143-2020：多铁性复合材料磁电耦合系数测试规范

检测设备

1. Bruker Dimension Icon原子力显微镜：配备PFM模块实现压电力显微成像

2. JEOL JEM-ARM300F洛伦兹透射电镜：具备1Å分辨率磁结构表征能力

3. Quantum Design PPMS DynaCool系统：集成VSM模块的低温强场测试平台

4. ZEISS GeminiSEM 500场发射扫描电镜：配置TKD探测器进行晶体取向分析

5. Oxford Instruments MFP-3D Infinity光电联用AFM：支持原位光电激励测试

6. Hitachi HF5000像差校正电镜：配备差分相位衬度(DPC)磁成像系统

7. Keysight B1500A半导体分析仪：实现纳米尺度输运特性与畴壁运动关联测量

8. attocube ANPx301低温扫描探针系统：工作温度可达10mK的量子传感平台

9. RHK Technology UHV VT-STM：超高真空变温扫描隧道显微镜系统

10. Lake Shore 8600系列VSM：高灵敏度振动样品磁强计（灵敏度1×10⁻⁶ emu）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.