膜厚检测

检测项目

1.金属镀层厚度：电镀/化学镀镍（0.5-50μm）、硬铬（10-300μm）、锌（5-25μm）
2.防腐涂层厚度：环氧树脂（100-500μm）、聚氨酯（50-200μm）
3.光学薄膜厚度：ITO导电膜（50-200nm）、AR增透膜（80-150nm）
4.半导体薄膜厚度：SiO₂介质层（10-1000nm）、金属布线层（200-500nm）
5.高分子薄膜厚度：PET基材（6-250μm）、PE保护膜（10-100μm）

检测范围

1.金属材料：铝合金阳极氧化层、不锈钢钝化膜
2.电子元件：PCB阻焊层、芯片封装胶层
3.汽车部件：电泳漆层、刹车盘渗氮层
4.光学器件：镜头镀膜、滤光片多层膜
5.包装材料：食品级复合膜、药品铝箔涂层

检测方法

1.磁性法：ASTMB499（铁基非磁性镀层）、GB/T4956（锌/铝涂层）
2.涡流法：ISO2360（非导电基体金属镀层）、GB/T4957
3.β射线背散射法：DIN50987（贵金属镀层）
4.X射线荧光法：ISO3497（多层合金镀层）、JISH8501
5.干涉显微法：GB/T11378（光学薄膜台阶测量）

检测设备

1.FischerMP0R：磁感应/涡流双原理探头，分辨率0.1μm
2.Elcometer456：四合一涂层测厚仪（磁性/涡流/超声波）
3.Olympus38DLPLUS：超声脉冲回波测厚仪（0.15-500mm）
4.HitachiX-MET8000：XRF光谱仪（薄膜成分+厚度同步分析）
5.BrukerDektakXT：触针式轮廓仪（0.1nm垂直分辨率）
6.FilmetricsF20：白光干涉膜厚仪（1nm精度）
7.KeyenceVK-X1000：激光共聚焦显微镜（三维膜厚成像）
8.ThermoFisherScios2：聚焦离子束剖面制备系统
9.ZeissSigma300：场发射电镜截面分析系统
10.KLATencorP-7：椭圆偏振光谱仪（纳米级薄膜测量）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.