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整数表示检测

原创
关键字: 整数表示测试标准,整数表示测试方法,整数表示测试案例
发布时间:2025-05-15 10:29:55
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检测项目

1.数值范围验证:32位整型-2,147,483,648至+2,147,483,647;64位整型-9,223,372,036,854,775,808至+9,223,372,036,854,775,807

2.补码转换精度:二进制补码与原码转换误差≤0.01%

3.溢出阈值判定:算术运算结果超出数据类型容量时的截断误差≤1ULP

4.字节序一致性:Big-Endian与Little-Endian格式转换零误差

5.浮点转定点误差:定点化过程最大量化误差≤0.5LSB

检测范围

1.集成电路芯片:CPU/GPU/FPGA的ALU单元

2.嵌入式系统模块:PLC控制器、DSP处理器

3.工业传感器:AD转换模块输出值

4.通信协议栈:TCP/IP包头长度字段

5.数据库系统:主键索引存储结构

检测方法

1.ISO/IEC10967:2012信息技术-语言独立算术运算规范

2.GB/T28168-2011嵌入式软件可靠性测试方法

3.ASTME2655-14数字系统数据完整性验证指南

4.IEEE754-2019浮点算术标准定点扩展部分

5.GB/T20271-2006信息安全技术信息系统通用安全技术要求

检测设备

1.KeysightN6705C直流电源分析仪:供电稳定性测试0.002%精度

2.TektronixMSO64B混合信号示波器:6GHz带宽数字信号捕获

3.XilinxVCU118开发板:FPGA硬件逻辑验证平台

4.AdvantestV93000ATE系统:SOC芯片全参数测试机台

5.NationalInstrumentsPXIe-4139源测量单元:0.8ppm电压测量精度

6.Rohde&SchwarzRTO6示波器:16位垂直分辨率信号分析

7.Chroma3380P系统电源:多通道隔离供电模块

8.Fluke8588A参考表:8.5位数字万用表基准测量

9.Agilent34980A开关单元:多通道信号路由系统

10.TeradyneUltraFLEX测试系统:混合信号集成电路验证平台

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户