缺陷测记器检测

检测项目

1.尺寸精度：测量公差范围0.01mm至0.5mm（依据ISO2768-1）
2.表面粗糙度：Ra值检测区间0.1μm~6.3μm（GB/T1031-2009）
3.内部气孔率：缺陷直径Φ0.05mm~Φ2.0mm（ASTME505）
4.硬度偏差：洛氏硬度HRC2级（ISO6508）
5.涂层厚度：覆盖层测量范围5μm~200μm（GB/T4956-2003）

检测范围

1.金属材料：铝合金压铸件/钛合金精密部件
2.高分子材料：注塑成型工程塑料制品
3.复合材料：碳纤维增强聚合物结构件
4.陶瓷材料：氧化锆结构陶瓷元件
5.电子元件：PCB基板与封装器件

检测方法

1.接触式测量法：采用三坐标测量机执行ISO10360-2标准
2.白光干涉法：依据ASTMD7127进行表面形貌分析
3.X射线断层扫描：满足GB/T9445-2008无损检测规范
4.超声波探伤法：符合JB/T9214-2010缺陷判定准则
5.金相显微分析：执行GB/T13298-2015组织缺陷评级

检测设备

1.MitutoyoCRYSTA-ApexS5746三坐标测量机（分辨率0.1μm）
2.TaylorHobsonFormTalysurfi120表面粗糙度仪（Ra重复性1%）
3.NikonXTH450工业CT系统（最小体素尺寸3μm）
4.WilsonRockwell574全自动硬度计（载荷误差≤0.5%）
5.Elcometer456涂层测厚仪（量程1μm~2000μm）
6.OlympusEPOCH650超声探伤仪（频率范围0.5MHz~30MHz）
7.ZEISSAxioImagerA2m金相显微镜（最大放大倍数1500）
8.FLIRT865红外热像仪（热灵敏度≤0.03℃）
9.ThermoScientificNitonXL5XRF分析仪（元素检出限10ppm）
10.FAROQuantumSMax激光扫描仪（扫描速率976,000点/秒）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.