可编程阵列逻辑检测

检测项目

1.逻辑功能验证：全输入组合覆盖测试（2^N次方组合），输出响应时间≤15ns
2.时序特性分析：建立时间（Tsu≥3.2ns）、保持时间（Th≥1.8ns）、传播延迟（Tpd≤22ns）
3.电气参数测试：输入高电平（VIH≥2.0V）、输入低电平（VIL≤0.8V）、输出驱动电流（IOH=24mA@2.4V）
4.功耗特性测试：静态电流（ICC≤50μA@25℃）、动态功耗（PD≤180mW@25MHz）
5.环境适应性测试：工作温度范围（-40℃~+85℃）、湿度敏感度等级（MSL3级）

检测范围

1.现场可编程门阵列（FPGA）：XilinxSpartan-7系列/AlteraCycloneV系列
2.复杂可编程逻辑器件（CPLD）：LatticeMachXO3系列/IntelMAX10系列
3.可编程阵列逻辑器件（PAL）：M22V10/M16R8架构器件
4.通用阵列逻辑器件（GAL）：GAL22V10/GAL16V8系列产品
5.ASIC原型验证芯片：基于PAL架构的定制化验证平台

检测方法

1.逻辑功能验证：依据IEEE1149.1边界扫描标准构建JTAG测试架构
2.时序特性测试：采用IEC60749-3半导体器件动态参数测量规程
3.电气特性分析：执行GB/T17574-2021半导体器件通用规范第4章要求
4.环境试验：参照MIL-STD-883HMethod1010温度循环试验程序
5.ESD防护测试：依据JESD22-A115F人体模型静电放电标准

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：支持100V/1A精度测量
2.TektronixDPO70000SX示波器：70GHz带宽/200GS/s采样率
3.AdvantestT2000测试系统：1024通道数字信号处理能力
4.Chroma3380P功率分析仪：μA级静态电流测量精度
5.ThermoStreamT-2600温度冲击箱：-65℃~+150℃转换时间＜10s
6.ESDAutoCDM5000充电器件模型测试仪：500V~8kV可调范围
7.XJTAGXVC-P4边界扫描控制器：支持IEEE1149.7多核调试
8.NIPXIe-6571数字波形发生器：1.6Gbps矢量生成速率
9.Fluke8846A六位半数字万用表：0.0024%基本直流精度
10.HASAHTS-100高温老化系统：1℃温控精度@150℃

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.