1.颗粒粒径分布:测量D10/D50/D90值及跨度系数(SpanIndex),分析范围0.1-2000μm2.化学成分分析:采用XRF/EDS技术测定Fe、Al、Si等元素含量(精度0.01wt%)3.表面形貌观察:通过SEM获取50-100000倍率下的表面粗糙度(Ra≤0.1μm)4.密度测定:真密度测试精度0.01g/cm,振实密度符合ISO3953标准5.热稳定性测试:TGA法测定失重曲线(升温速率10℃/min,温度范围RT-1200℃)
1.金属粉末:钛合金/铝合金/铜基粉末(3D打印原料)2.高分子微粒:PE/PP/PET工程塑料颗粒(粒径50-800μm)3.陶瓷微粉:氧化铝/氮化硅/碳化硅(纯度≥99.9%)4.药物微丸:缓释制剂载药颗粒(粒径200-1000μm)5.电子材料粉末:MLCC用钛酸钡粉体(粒径≤1μm)
1.激光衍射法:ISO13320/ASTMB822标准测定粒度分布2.X射线荧光法:GB/T16597/JISK0119进行元素定量3.扫描电镜法:GB/T27788规定表面形貌表征流程4.气体吸附法:ISO9277/BET理论计算比表面积5.热重分析法:GB/T19466/ISO11358测试热稳定性6.振实密度测试:GB/T5162/ISO3953规范操作程序
1.MalvernMastersizer3000:激光粒度仪(测量范围0.01-3500μm)2.HitachiSU5000场发射电镜:分辨率1nm@15kV3.NetzschSTA449F5同步热分析仪:TG-DSC联用系统4.MicromeriticsTriStarII3020:BET比表面分析仪(孔径0.35-500nm)5.QuantachromeAutotap:智能振实密度仪(振动频率250次/min)6.BrukerS8TIGERXRF光谱仪:4kW功率Rh靶射线管7.MettlerToledoXSE105电子天平:精度0.01mg8.SympatecHELOS/RODOS干法分散系统:压力可调范围0.1-4bar9.HoribaParticaLA-960V2激光散射仪:双光源系统(650nm+405nm)10.AgilentCary630FTIR光谱仪:检测限0.1%有机组分
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。