纳米二氧化硅检测

检测项目

1.粒径分布：采用动态光散射法测定D10/D50/D90值及多分散指数（PDI），范围10-500nm
2.比表面积：BET法测量比表面积（SSA），精度3%，测试范围0.01-2000m/g
3.纯度分析：ICP-OES测定SiO₂含量≥99.5%，金属杂质总量≤500ppm
4.表面羟基含量：酸碱滴定法测定-OH基团密度（2-8个/nm）
5.团聚指数：TEM结合图像分析计算原始颗粒与二次团聚体比例

检测范围

1.橡胶工业：轮胎用补强填料、硅橡胶基复合材料
2.涂料领域：UV固化涂料消光剂、防腐涂层添加剂
3.电子材料：芯片封装胶、PCB基板增强剂
4.医药载体：药物缓释系统、生物传感器基材
5.环保材料：废水处理吸附剂、空气净化催化载体

检测方法

1.ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
2.ASTME2865-18《纳米材料表面羟基测定标准指南》
3.GB/T19591-2004《纳米二氧化钛》中SiO₂纯度测试方法
4.ISO9277:2010《气体吸附法测定比表面积》
5.GB/T30449-2013《纳米材料术语》对应表征要求

检测设备

1.MalvernMastersizer3000：激光粒度仪，量程0.01-3500μm
2.MicromeriticsASAP2460：全自动比表面及孔隙度分析仪
3.ThermoFisheriCAP7400：ICP-OES元素分析系统
4.JEOLJEM-2100F：场发射透射电子显微镜（分辨率0.19nm）
5.AntonPaarLitesizer500：动态/静态光散射联用系统
6.NetzschSTA449F5：同步热分析仪（TG-DSC联用）
7.BrukerD8ADVANCE：X射线衍射仪（Cu靶,λ=1.5406）
8.ShimadzuUV-2600i：紫外可见分光光度计（波长范围190-1400nm）
9.Metrohm905Titrando：全自动电位滴定仪（精度0.1μL）
10.Agilent7890B-5977A：GC-MS联用系统（挥发性有机物检测）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.