多层陶瓷电容检测

检测项目

电容值：测量精度±0.5%（IEC 60384-1），范围1pF~100μF

介电常数：测试频率1kHz~1MHz（ASTM D150），误差<1%

损耗因数：tanδ测量范围0.0001~0.1（GB/T 2693），分辨率0.00001

绝缘电阻：直流电压100V（ISO 16750-2），阻值>10GΩ

耐压测试：交流/直流耐压强度0~3000V（IEC 60384-1），漏电流<1mA

温度系数：-55°C~125°C范围（EIA RS-198），容差±30ppm/°C

尺寸精度：长度/宽度公差±0.1mm（JIS C5102），高度±0.05mm

焊接性测试：润湿时间<2s（IPC J-STD-002），可焊面积>95%

机械强度：弯曲力测试0~50N（MIL-PRF-55681），失效阈值>10N

环境耐久性：温度循环-65°C~150°C（AEC-Q200），循环次数1000次

等效串联电阻：ESR测量频率100kHz（EIA-198-1-F），值<100mΩ

电压系数：施加电压0~200V（IEC 60384-8），容变率<5%

老化特性：高温存储125°C/1000h（GB/T 4937），电容漂移<10%

检测范围

X7R类陶瓷电容：温度稳定型，用于通用电路

Y5V类陶瓷电容：高容量型，适用消费电子

C0G/NP0类陶瓷电容：超低损耗型，用于射频应用

高电压MLCCs：额定电压>100V，用于电源模块

低ESR MLCCs：等效串联电阻<50mΩ，适用高频滤波

汽车级陶瓷电容：符合AEC-Q200标准，用于引擎控制单元

工业级陶瓷电容：工作温度-40°C~150°C，适用电机驱动

医疗设备用陶瓷电容：满足ISO 13485，用于植入式器械

航空航天陶瓷电容：MIL-STD-883兼容，用于卫星系统

表面贴装阵列电容：多端子结构，适用高密度PCB

引线型陶瓷电容：通孔安装式，用于传统电路板

超小型陶瓷电容：尺寸<1mm²，用于可穿戴设备

检测方法

LCR表测量法：依据IEC 60384-1测定电容值和损耗因数

介电频谱分析法：执行ASTM D150标准测试介电性能

高阻计测试法：采用GB/T 2693规范测量绝缘电阻

耐压试验法：符合ISO 16750-2进行交流/直流耐压测试

温度循环测试法：参照AEC-Q200执行-65°C~150°C循环

尺寸光学测量法：使用JIS C5102标准验证几何公差

焊接润湿平衡法：依据IPC J-STD-002测试可焊性

机械弯曲测试法：遵循MIL-PRF-55681进行强度验证

环境应力筛选法：按GB/T 4937实施高温老化试验

ESR分析仪法：基于EIA-198-1-F测量等效串联电阻

电压偏置测试法：符合IEC 60384-8测定电压系数

检测设备

PrecisionLCRModel4980A：频率范围20Hz~2MHz，支持电容/ESR测量

HighVoltageTesterModelHVT-5000：输出电压0~5kV，漏电流精度0.1mA

InsulationResistanceMeterModelIRM-100：量程1MΩ~10TΩ，符合ISO标准

ThermalChamberModelTC-200：温度范围-70°C~180°C，控制精度±0.5°C

OpticalMicroscopeModelOM-40X：放大倍数40X，尺寸分辨率0.001mm

SolderabilityTesterModelST-360：润湿力测量范围0~10mN，时间精度0.1s

MechanicalStrengthTesterModelMST-50：加载力0~100N，位移分辨率1μm

ESRAnalyzerModelESR-100kHz：频率100kHz，阻抗精度±1%

EnvironmentalTestSystemModelETS-1000：支持温度/湿度循环，符合AEC-Q200

DielectricAnalyzerModelDA-1MHz：介电常数测试，频率1MHz，误差<0.5%

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

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