锂电三元前驱体检测

检测项目

镍含量：测量范围0-100%，精度±0.1%（ICP-OES法）

钴含量：检测限0.01%，相对标准偏差≤1%（ICP-MS法）

锰含量：测定范围0-50%，精度±0.05%（AAS法）

铝含量：适用于NCA前驱体，测量范围0-10%，误差±0.02%

粒度分布：D10/D50/D90值测定，范围0.01-500μm，分辨率0.1μm（激光衍射法）

比表面积：BET法测量，范围0.1-2000m²/g，精度±2%

振实密度：测量范围0.5-5g/cm³，重复性±0.5%（振实密度仪法）

水分含量：卡尔费休法检测，范围0.001-100%，检出限0.001%

pH值：测定范围0-14，精度±0.01（pH计法）

杂质元素（铁、钠、钙）：ICP-MS法检测，检出限0.1ppm

硫酸根离子含量：离子色谱法测量，范围0.1-1000ppm，精度±3%

氯离子含量：检测限0.05ppm，相对误差≤5%（电位滴定法）

晶体结构分析：XRD法晶型识别，衍射角范围5-80°

形貌观察：SEM分辨率1nm，放大倍数10-100000×

热稳定性：TGA失重率测定，温度范围RT-1000°C，精度±0.1%

氧含量：惰性气体熔融法测量，范围0.01-10%，误差±0.005%

表面元素分布：EDS面扫描分析，元素检出限0.1wt%

孔体积分布：BJH法测定，范围0.01-1000cm³/g

振实流动性：休止角测量，范围20-50°，精度±0.5°

金属杂质总量：原子吸收法检测，检出限0.05ppm

检测范围

镍钴锰氢氧化物（NCM）前驱体：如NCM111、NCM523、NCM622、NCM811

镍钴铝氢氧化物（NCA）前驱体：如NCA90、NCA85系列

高镍三元前驱体：镍含量≥80%，如Ni90Co5Mn5

中镍三元前驱体：镍含量50-70%，如Ni60Co20Mn20

低镍三元前驱体：镍含量≤40%，如Ni30Co30Mn40

球形前驱体：球形度≥95%，粒径1-20μm

不规则形前驱体：多孔或片状结构

纳米级前驱体：粒径<100nm，比表面积>50m²/g

微米级前驱体：粒径0.5-50μm，密度>1.5g/cm³

掺杂改性前驱体：掺杂镁、钛、锆等元素，掺杂量0.1-5%

碳酸盐前驱体：如镍钴锰碳酸盐

氧化物前驱体：热处理后氧化物形式

回收料源前驱体：从废旧电池提取的再生材料

固态电池用前驱体：低杂质要求，离子电导率优化

核壳结构前驱体：核层与壳层成分梯度设计

高电压型前驱体：适用于>4.3V电池体系

低钴或无钴前驱体：钴含量≤5%或零钴配方

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：依据ASTME1479测定镍、钴、锰主量元素

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：依据ISO17294检测痕量杂质元素如铁、钠

X射线衍射法（XRD）：依据ISO20203分析晶体结构和物相组成

激光衍射粒度分析法：依据GB/T19077测量粒径分布及D50值

比表面积BET氮吸附法：依据ASTMD3663测定比表面积和孔结构

卡尔费休库仑法水分测定：依据GB/T6283检测水分含量

pH电位测定法：依据GB/T9724使用玻璃电极pH计

振实密度自动敲击法：依据GB/T5162测量振实密度和流动性

扫描电子显微镜法（SEM）：依据ASTME1508进行形貌和表面分析

热重分析法（TGA）：依据ASTME1131测定热分解行为和失重率

离子色谱法：依据GB/T33345检测硫酸根、氯离子等阴离子

原子吸收光谱法（AAS）：依据ISO15586测定特定金属元素含量

傅里叶变换红外光谱法（FTIR）：依据ASTME1252分析官能团和化学键

能量色散X射线光谱法（EDS）：依据ISO22309进行元素面分布扫描

电位滴定法：依据GB/T601测定氯离子含量

惰性气体熔融氧氮分析：依据ASTME1019测定氧含量

压汞法孔隙度测定：依据ASTMD4404测量孔体积分布

检测设备

PerkinElmerOptima8300ICP-OES光谱仪：波长范围165-900nm，元素检出限0.1ppm，用于主量元素分析

ThermoScientificiCAPRQICP-MS质谱仪：质量范围2-260amu，检出限0.01ppb，支持多元素痕量检测

MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm，精度±1%，具备湿法/干法分散模块

MicromeriticsASAP2460比表面积分析仪：BET法比表面积范围0.01-无上限m²/g，真空度10⁻³Pa

Metrohm899Coulometer卡尔费休水分仪：检测限0.001%，库仑滴定电流范围0-400mA

HitachiSU8000场发射扫描电镜：分辨率0.8nm，加速电压0.5-30kV，配备EDS探测器

ShimadzuXRD-7000X射线衍射仪：角度范围5-80°，步长0.01°，CuKα辐射源

QuantachromeAutotap振实密度仪：敲击次数0-3000次，振幅3mm，符合ASTMB527

MettlerToledoSevenExcellencepH计：测量精度±0.001，温度补偿范围0-100°C

NetzschSTA449F3同步热分析仪：TGA/DSC联用，温度范围RT-1650°C，称量精度0.1μg

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

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