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X射线衍射(XRD)物相分析

原创
关键字: X射线衍射(XRD)物相分析测试方法,X射线衍射(XRD)物相分析测试案例,X射线衍射(XRD)物相分析项目报价
发布时间:2025-06-23 20:07:57
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检测项目

定性分析:

  • 物相鉴定:峰值位置匹配(2θ±0.02°)特征峰强度对比(参照ISO20203)
  • 物相鉴别:空间群确定(如Pm-3m)、对称性识别
定量分析:
  • 相含量计算:Rietveld方法精修(误差≤1wt%)内标法比例测定
  • 非晶含量测试:非晶峰面积占比(参照ASTME975)
晶体结构解析:
  • 晶胞参数测定:a,b,c值(精度±0.001Å)、晶胞体积计算
  • 原子坐标确定:键长键角分析(基于Fullprof软件)
晶粒尺寸分析:
  • 谢乐公式计算:晶粒尺寸D(nm,范围10-100nm)、微应变ε测试
  • 峰宽分析:半高宽FWHM(±0.01°)
残余应力测定:
  • 表面应力检测:sin²ψ法(应力值范围±1000MPa)深度分布分析
  • 宏观应力测试:衍射角偏移量量化(参照GB/T13298)
织构分析:
  • 极图绘制:取向分布函数ODF织构强度计算
  • 晶面择优取向:反极图构建(如{111}面)
薄膜分析:
  • 薄膜厚度测量:掠入射XRD(GI-XRD,角度范围0.5-5°)、界面结构表征
  • 应力梯度分析:多层膜衍射峰位移
高温/低温XRD:
  • 原位相变监测:温度范围-196~1600℃相变点确定(如居里温度)
  • 热膨胀系数测定:晶格参数随温度变化率
非晶材料分析:
  • 非晶衍射晕拟合:径向分布函数RDF短程有序测试
  • 晶化过程跟踪:晶化峰出现温度(参照ISO20203)
多相混合物分析:
  • 相分离检测:各相衍射峰分离度占比精度(±0.5%)
  • 杂质物相识别:微量相检出限(≥0.1wt%)

检测范围

1.金属合金:涵盖铝合金钛合金及高温合金,重点检测相组成变化及热处理后晶粒细化程度

2.陶瓷材料:包括氧化锆碳化硅等,侧重高温相稳定性及晶界结构分析

3.矿物样品:如石英方解石等地质矿物,检测晶型纯度及杂质物相含量

4.药品晶体:API原料药及制剂,关注多晶型转化及结晶度一致性

5.聚合物材料:半结晶聚合物如聚乙烯,分析结晶度百分比及晶胞参数

6.纳米材料:纳米粉末及量子点,重点检测晶粒尺寸分布及表面应力效应

7.地质样品:岩石及土壤标本,测定矿物相组成及风化程度

8.建筑材料:水泥及混凝土,检测水化产物相(如C-S-H)及残余未反应物

9.电子材料:半导体硅片及薄膜器件,分析外延层结构与界面缺陷

10.催化剂材料:多孔载体及活性组分,检测活性相分布及载体晶型稳定性

检测方法

国际标准:

  • ISO20203:2015X射线衍射定量相分析
  • ASTME975-13残余应力测定标准方法
  • ASTMD8448-22薄膜XRD分析
国家标准:
  • GB/T13298-2022金属材料X射线衍射分析方法
  • GB/T36082-2018纳米材料晶粒尺寸测试
  • GB/T38532-2020水泥X射线衍射分析
方法差异说明:ISO标准侧重峰形拟合精度,ASTM强调应力测量校准,GB标准在晶胞参数计算中采用不同算法;ASTM与GB在角度扫描步长和计数时间设定存在差异(如ASTM推荐0.02°/stepvsGB0.01°/step)。

检测设备

1.多晶X射线衍射仪:RigakuSmartLabSE(角度范围5-140°分辨率0.0001°)

2.薄膜XRD系统:BrukerD8DISCOVER(掠入射角精度±0.001°二维探测器)

3.高温衍射仪:PANalyticalEmpyrean(温度范围RT-1600℃气氛控制)

4.微区XRD设备:MalvernPanalyticalAeris(光束尺寸50μmMapping功能)

5.便携式XRD仪:OlympusTERRA(野外适用检测限0.1wt%)

6.织构测角仪:BrukerD8ADVANCE(欧拉角范围360°四圆测角头)

7.同步辐射XRD:Spring-8光束线(高亮度光源时间分辨≤1ms)

8.低温XRD系统:AntonPaarTTK600(温度-196℃真空环境)

9.应力分析仪:ProtoLXRD(Ψ角范围±45°应力精度±10MPa)

10.纳米XRD装置:XenocsXeuss3.0(小角散射SAXS集成Q范围0.001-5Å⁻¹)

11.高通量衍射仪:STOESTADIP(96样品位自动换样)

12.实验室光源系统:PhilipsX'PertPRO(CuKα辐射功率3kW)

13.二维探测器设备:DectrisPilatus3R(帧率100Hz动态范围>20位)

14.全自动衍射仪:ShimadzuXRD-7000(软件集成Rietveld分析)

15.教育用基础设备:InelEquinox3000(操作简易角度精度±0.01°)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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