CMA资质
CMA资质
cnas资质
cnas资质
cnas资质
cnas资质
高新技术企业证书
高新技术企业证书

电子绝缘材料介电常数测试

原创
关键字: 电子绝缘材料介电常数测试测试机构,电子绝缘材料介电常数测试测试标准,电子绝缘材料介电常数测试测试仪器
发布时间:2025-07-10 09:20:36
最近访问:
阅读:
字体大小: || || || 复原

检测项目

介电性能:

  • 介电常数:εr(频率1kHz-1MHz,参照IEC60250)
  • 损耗因子:tanδ≤0.005(频率范围20Hz-100kHz,参照ASTMD150)
  • 相对电容率:变化率±2%(温度-40°C至125°C,参照IPCTM-650)
电气绝缘性能:
  • 体积电阻率:ρv≥10^12Ω·m(DC电压100V,参照IEC60093)
  • 表面电阻率:ρs≥10^10Ω(湿度50%RH,参照ASTMD257)
  • 击穿电压:BDV≥10kV/mm(升压速率0.5kV/s,参照IEC60243)
热性能:
  • 热膨胀系数:CTE≤20ppm/°C(温度范围25°C-150°C,参照ASTME228)
  • 热导率:k≥0.2W/m·K(稳态法,参照ASTME1530)
  • 玻璃化转变温度:Tg≥120°C(DSC分析,参照ISO11357)
力学性能:
  • 拉伸强度:TS≥50MPa(应变速率5mm/min,参照ISO527)
  • 弯曲模量:FM≥3GPa(三点弯曲法,参照ASTMD790)
  • 冲击韧性:IZOD≥5kJ/m²(室温条件,参照ISO180)
环境适应性:
  • 湿热老化:介电常数变化≤±5%(85°C/85%RH,1000h,参照IEC60068)
  • 冷热冲击:循环性能稳定(-40°C至125°C,100次,参照JESD22-A104)
  • 盐雾腐蚀:表面电阻下降≤15%(5%NaCl,48h,参照ISO9227)
化学成分:
  • 元素含量:碳含量偏差±0.1wt%(XRF分析,参照ASTME1621)
  • 添加剂比例:抗氧化剂≤0.5wt%(HPLC检测,参照GB/T2918)
  • 杂质浓度:金属离子≤10ppm(ICP-OES,参照ISO11885)
物理特性:
  • 密度:偏差±0.02g/cm³(浸没法,参照ASTMD792)
  • 厚度均匀性:公差±0.01mm(测厚仪,参照IPC-4101)
  • 表面粗糙度:Ra≤0.5μm(轮廓仪,参照ISO4287)
老化测试:
  • 紫外老化:色差ΔE≤2(QUV试验,1000h,参照ASTMG154)
  • 热氧老化:断裂伸长率下降≤10%(150°C,500h,参照ISO188)
  • 电老化:寿命预测模型验证(加速电压,参照IEC61251)
安全性能:
  • 阻燃等级:V-0级(JianCe94垂直燃烧,参照IEC60695)
  • 漏电流:≤1μA(AC250V,参照IEC60950)
  • 毒性释放:VOC≤50μg/g(GC-MS,参照ISO16000)
高频特性:
  • 微波介电常数:εr稳定(2GHz-10GHz,参照IPCTM-650)
  • 相位角一致性:偏差±1°(网络分析仪,参照IEEE287)
  • 品质因数:Q≥1000(谐振法,参照IEC61189)

检测范围

1.聚合物绝缘材料:聚乙烯、聚丙烯、环氧树脂等,重点检测高频介电性能和湿热老化稳定性。

2.陶瓷绝缘材料:氧化铝、氮化硅等,侧重高温介电常数稳定性和击穿电压强度。

3.复合绝缘材料:玻璃纤维增强环氧、云母填充物等,检测界面粘结强度和多频带电气性能。

4.薄膜绝缘材料:PET、PI薄膜等,聚焦厚度均匀性、表面电阻率和弯曲疲劳后的介电损失。

5.橡胶绝缘材料:硅橡胶、EPDM等,重点测试弹性回复后的绝缘电阻和热膨胀系数。

6.玻璃绝缘材料:硼硅酸盐玻璃等,检测高频损耗因子和化学腐蚀耐受性。

7.云母绝缘材料:天然云母片等,侧重层间介电常数一致性和机械强度。

8.纸绝缘材料:电容器纸、Nomex纸等,重点测试吸湿后的体积电阻率和击穿特性。

9.涂层绝缘材料:聚氨酯涂层、陶瓷涂层等,检测附着力、表面绝缘性和盐雾腐蚀影响。

10.纳米复合材料:纳米填料增强聚合物等,聚焦纳米尺度介电性能和热老化稳定性。

检测方法

国际标准:

  • IEC60250绝缘材料介电性能测量方法(频率1kHz以下)
  • ASTMD150固体电绝缘材料交流损耗特性及电容率标准试验方法(频率范围20Hz-100MHz)
  • IPCTM-650印刷电路板材料测试方法(高频介电常数测量)
  • ISO6721塑料动态力学性能测试(黏弹行为分析)
  • IEC60093绝缘材料体积电阻率测定(DC电压法)
国家标准:
  • GB/T1409绝缘材料介电性能试验方法(工频测量为主)
  • GB/T1634塑料热变形温度测定(弯曲负荷法)
  • GB/T2918塑料试样状态调节和试验标准环境(温湿度控制)
  • GB/T17651绝缘材料表面电阻率测定(电极配置差异)
  • GB/T2423电工电子产品环境试验规程(湿热老化方法)
方法差异说明:国际标准(如IEC60250)侧重低频介电测试,频率上限1MHz;而国家标准(如GB/T1409)主要覆盖工频范围(50Hz),测试精度要求较低。高频测量(如IPCTM-650)采用谐振腔法,频率扩展至GHz级,与ASTMD150的平行板电极法存在电场分布差异。

检测设备

1.LCR测试仪:KeysightE4980A(频率范围20Hz-2MHz,精度±0.05%)

2.阻抗分析仪:Agilent4294A(频率范围40Hz-110MHz,阻抗分辨率0.1mΩ)

3.高频Q表:Boonton260A(频率1MHz-200MHz,Q值范围10-1000)

4.电容测试平台:Andeen-Hagerling2700A(电容分辨率0.01pF,温度控制-65°C-200°C)

5.恒温恒湿箱:ESPECSH-641(温度范围-70°C-150°C,湿度10%-98%RH)

6.万能材料试验机:Instron5967(载荷范围0.01kN-50kN,位移精度±0.5μm)

7.热分析仪:TAInstrumentsQ800(DSC精度±0.1°C,TGA分辨率0.1μg)

8.电阻率测试仪:Keithley6517B(电压范围0-1000V,电阻测量至10^18Ω)

9.击穿电压测试仪:HaefelyHipotronicsP150(电压0-150kV,升压速率可调)

10.网络分析仪:Rohde&SchwarzZNB20(频率10MHz-20GHz,S参数精度±0.1dB)

11.老化试验箱:AtlasCi4000(UV辐射强度0.5W/m²,温度控制±1°C)

12.扫描电子显微镜:HitachiSU8010(分辨率1nm,放大倍率30-800,000x)

13.光谱分析仪:PerkinElmerOptima8300(ICP-OES检测限0.001ppm)

14.表面轮廓仪:MitutoyoSurftestSJ-410(Ra测量范围0.01-40μm)

15.热导率测试仪:NetzschLFA467(温度范围-100°C-500°C,精度±3%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户

上一篇: 返回列表
下一篇: 线路板金相分析
返回列表