偏振模色散分析

检测项目

1.偏振模色散时域分析：差分群时延测量、偏振态演化轨迹分析、主偏振态确定、脉冲展宽效应测试。

2.偏振模色散频域分析：波长相关偏振态变化测量、频率相关差分群时延分析、偏振相关损耗谱表征。

3.链路偏振模色散测试：链路偏振模色散系数测定、偏振模色散功率代价模拟、系统最大传输距离估算。

4.差分群时延测量：平均差分群时延、瞬时差分群时延、差分群时延随波长变化分布。

5.偏振态演化分析：斯托克斯参数测量、邦加球轨迹绘制、偏振态变化速率分析。

6.偏振相关损耗测试：偏振相关损耗值测定、偏振相关损耗谱分析、与偏振模色散的联合效应测试。

7.偏振模色散补偿效果验证：补偿前后差分群时延对比、眼图张开度改善测试、误码率性能测试。

8.光纤偏振特性测试：光纤拍长测量、偏振串扰分析、双折射分布测试。

9.光器件偏振模色散测试：光放大器偏振模色散、波分复用器偏振相关性、光开关偏振敏感性。

10.环境应力下偏振模色散稳定性测试：温度循环偏振模色散变化、机械振动对偏振态影响、弯曲与挤压下的差分群时延稳定性。

11.偏振模色散统计特性分析：麦克斯韦分布拟合、偏振模色散瞬时值统计、长期偏振模色散变化监测。

检测范围

单模光纤、多模光纤、色散补偿光纤、光纤复合架空地线、室内外光缆、光纤束、光纤跳线、光纤连接器、阵列波导光栅、波分复用器、光隔离器、光环形器、掺铒光纤放大器、半导体光放大器、可调光衰减器、光开关、直调激光器、电吸收调制激光器、光接收模块、硅光芯片

检测设备

1.偏振模色散分析仪：用于直接测量光纤或光器件的偏振模色散与差分群时延；采用干涉法或固定分析仪法，可在宽波长范围内进行快速扫描。

2.可调谐激光源：提供波长连续可调的高稳定度激光输出；作为测试系统的光源，用于进行波长相关的偏振模色散测量。

3.偏振态分析仪：精确测量光信号的斯托克斯参数并在邦加球上显示偏振态；用于分析偏振态随波长或时间的演化过程。

4.光偏振控制器：可编程控制光信号的偏振态；用于在测试中扫描所有输入偏振态，以获取最坏情况下的偏振模色散值。

5.高速光采样示波器：捕获和分析高速光脉冲波形；用于时域法测量脉冲展宽，间接计算偏振模色散。

6.干涉式偏振模色散测试系统：基于迈克尔逊或马赫-曾德尔干涉原理搭建；用于高分辨率测量短长度光纤或器件的差分群时延。

7.偏振相关损耗测试仪：集成化测量偏振相关损耗；常与偏振模色散测试同步进行，测试两者对系统的综合影响。

8.光功率计与探测器：测量不同偏振态下的光功率；作为基础光电转换设备，用于多种偏振相关测试的功率监测。

9.环境应力试验箱：提供可控的温度、湿度及振动环境；用于测试光纤或光器件在不同环境应力条件下的偏振模色散稳定性。

10.光回波损耗测试仪：测量连接点或器件端面的反射光功率；在偏振模色散测试中，需控制回波损耗以避免其对测量准确性的干扰。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.