检测项目
1.基准模场直径测量:在规定波长下的模场直径标称值测量。
2.工作波长模场直径测试:在系统实际工作波长窗口下的模场直径测定。
3.多波长扫描模场特性分析:在一定波长范围内模场直径随波长变化的曲线测绘。
4.理论连接损耗测试:基于模场直径失配计算的理论光纤对接损耗。
5.模场同心度误差检测:光纤几何中心与模场中心之间的偏差测量。
6.模场非圆度测定:模场横截面形状偏离圆形的程度量化。
7.弯曲损耗系数关联测试:模场直径与光纤弯曲诱导附加损耗的关联性分析。
8.宏弯敏感性测试:在不同弯曲半径下模场稳定性及损耗变化测试。
9.折射率剖面间接验证:通过模场测量结果反推与验证光纤折射率剖面设计的符合性。
10.光纤拼接损耗预测校准:为熔接机损耗预估功能提供校准用基准模场数据。
11.环境特性模场稳定性测试:在温湿度变化条件下模场直径的稳定性监测。
12.偏振相关模场检测:分析不同偏振态入射光对模场测量结果的影响。
13.成品光纤跳线端接测试:对已端接连接器的光纤跳线进行有效模场直径验证。
14.多模光纤等效模场分析:对特定条件下使用的多模光纤进行等效模场参数测量。
15.新产品与原型验证测试:新型光纤设计样品的模场特性全面表征与验证。
检测范围
标准单模光纤、弯曲不敏感单模光纤、色散位移单模光纤、截止波长位移单模光纤、宽波长窗口单模光纤、光纤预制棒测试段、紧套光纤与裸光纤、室内外光缆中的单模光纤单元、光纤跳线与尾纤、各类光纤连接器端接样品、掺铒光纤等有源光纤、保偏光纤、光子晶体光纤、多模光纤的等效模场测试样品、特种涂覆层光纤、光纤耦合器输入输出光纤、光模块内部封装光纤
检测设备
1.扫描近场光学显微镜:通过纳米级精度的近场扫描直接获取光纤端面光强分布图像,用于高精度模场分析。
2.可变孔径法测试系统:通过改变接收孔径大小并测量透射光功率,依据标准公式计算模场直径的传统可靠方法。
3.刀口扫描法测试系统:使用精密移动的刀口遮挡光束,通过光功率变化曲线推导模场尺寸,尤其适用于对称性良好的模场。
4.远场扫描法测试系统:测量光纤输出光的远场强度角分布,并通过积分变换或拟合算法获得模场直径。
5.光学参数分析仪:集成多种测试功能的平台,可自动化完成模场直径、截止波长、衰减等多参数测量。
6.高分辨率光束轮廓分析仪:配合显微物镜使用,直接对光纤输出端面或近场像进行高分辨率光强分布测量与数据分析。
7.可调谐激光光源系统:提供高波长精度与稳定度的输出,用于模场直径随波长变化的依赖性测量。
8.温湿度试验箱:为被测光纤提供可控的环境条件,用于测试模场直径的环境稳定性。
9.光纤弯曲测试装置:可精确控制弯曲半径与圈数的机械装置,用于研究弯曲状态下模场特性的变化。
10.精密光纤切割刀与端面检测仪:确保被测光纤端面达到镜面质量,是获得准确模场测量结果的前提保障设备。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。