低温冲击测试

检测项目

1.材料机械性能变化测试：低温冲击后材料的抗拉强度、弯曲强度、冲击韧性、硬度变化测试。

2.焊接点与接合部可靠性测试：焊点开裂、虚焊、剥离强度下降、邦定线断裂检测。

3.涂层与镀层附着力测试：油漆、塑料涂层、金属镀层起泡、剥落、龟裂现象测试。

4.密封性能与防水等级验证：壳体密封件、胶圈、灌封胶在冷热冲击后的密封有效性检测。

5.光学组件性能测试：显示屏、透镜、光学窗口的雾化、形变、透光率变化测试。

6.结构完整性检测：外壳变形、裂纹、螺丝孔位偏移、卡扣机构失效检测。

7.电气连接可靠性测试：接插件接触电阻增大、引脚松动、绝缘性能下降测试。

8.尺寸稳定性测量：关键结构尺寸在试验前后的公差变化测量。

9.基础功能与性能验证：低温冲击后产品的启动、运行、基本功能是否正常。

10.内部冷凝水影响测试：检测产品内部是否因温度骤变产生冷凝水及其对电路的影响。

检测范围

智能手机、平板电脑、笔记本电脑、可穿戴设备、车载中控屏、工业控制器、通信模块、传感器、继电器、断路器、锂电池组、印刷电路板、集成电路、发光二极管、陶瓷电容器、塑料接插件、金属结构件

检测设备

1.两箱式冷热冲击试验箱：用于实现样品在高温箱和低温箱之间的快速转换；转换时间短，温变速率高。

2.三箱式冷热冲击试验箱：具备独立的高温区、低温区和测试区；样品在测试区静止，通过气流切换温度，减少机械移动冲击。

3.高低温预处理箱：用于测试前对样品进行状态调节，或进行非冲击式的高低温循环测试。

4.温度巡检仪与传感器：实时监测并记录试验箱内多个点位及样品关键部位的温度变化曲线。

5.材料试验机：用于测试冲击前后样品的拉伸、弯曲、压缩等力学性能，量化材料性能变化。

6.绝缘电阻测试仪：检测电子元器件及成品在经历温度冲击后的绝缘性能是否满足安全要求。

7.导通电阻测试仪：精确测量开关、接插件、继电器触点在试验前后的接触电阻变化。

8.光学影像测量仪：对样品表面的裂纹、形变、涂层剥落等进行精确定量和定性分析。

9.金相显微镜：用于观察和分析焊点、涂层截面、材料微观结构在热应力下的裂纹、空洞等缺陷。

10.环境试验后功能测试平台：集成专用治具与测试程序，用于快速验证样品在试验后的各项电气功能与性能指标。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.