粉尘率测试

检测项目

1.元件表面粉尘分析：可见微粒计数，不可见残留物质量测定，粉尘分布密度测绘。

2.内部腔体洁净度：密闭空间落尘总量，粉尘沉降速率，内部气流携尘量测试。

3.粉尘粒径分布：大尺寸异物筛查，精细粉尘分级统计，特征粒径区间占比分析。

4.粉尘物质成分鉴别：无机物成分分析，有机污染物鉴定，纤维状杂质识别。

5.静电吸附粉尘测试：静电作用下附着粉尘量，去静电处理后残留量对比。

6.封装过程粉尘引入：封装环境洁净度监控，封装材料自身落尘测试，封装后内部洁净度验证。

7.工作寿命周期产尘：机械磨损产尘模拟，材料老化析出微粒，长期运行内部粉尘积累测试。

8.清洗工艺有效性验证：清洗前后粉尘率对比，不同清洗剂残留测试，干燥过程二次污染检测。

9.包装与运输过程防护：包装材料析出粉尘，运输振动后内部粉尘状态，防尘包装密封性验证。

10.环境适应性粉尘测试：高低温循环下粉尘特性，湿度变化对粉尘附着的影响，低气压环境扬尘测试。

11.粉尘导电性影响测试：导电粉尘导致的绝缘电阻下降，微粒桥接引起的短路风险分析。

检测范围

集成电路芯片、微型传感器、继电器与连接器、印刷电路板组件、陶瓷封装外壳、金属精密结构件、光学镜头模组、硬盘磁头与盘片、微型电机与风扇、散热模组、硅晶圆片、电子模块灌封体、柔性电路板、半导体引线框架、电源模块、射频滤波器、光通信器件、密封电子舱体、绝缘子、电子陶瓷基板

检测设备

1.高精度微量天平：用于精确称量测试前后滤膜或样品的质量变化，以计算粉尘质量浓度；具备极高的分辨率和抗环境干扰能力。

2.光学粒子计数器：对空气中或表面沉降的微粒进行实时计数与粒径分级；采用光散射原理，可提供连续的粒径分布数据。

3.扫描电子显微镜：对采集到的粉尘进行高倍率形貌观察和微观结构分析；配合能谱仪可进行微区元素成分鉴定。

4.洁净室环境监测系统：持续监测测试环境的温度、湿度、压差及空气粒子浓度；确保测试在受控的洁净条件下进行。

5.振动试验台：模拟运输或工作过程中的机械振动，测试振动条件下元件内部粉尘的析出、迁移与分布情况。

6.静电消散测试仪：测量样品表面的静电电压及衰减速率，测试静电对粉尘吸附与去除的影响。

7.颗粒物清洗萃取装置：通过特定液体（如超纯水、异丙醇）对样品进行超声波或压力冲洗，将表面粉尘萃取至液体中以便后续分析。

8.滤膜采样与分析系统：使用特定孔径的滤膜对空气或清洗液中的颗粒进行收集，用于后续的称重、显微观察或成分分析。

10.温湿度循环试验箱：提供可控的温度和湿度变化环境，测试在不同气候条件下粉尘的物理化学特性变化及其对元件的影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.