继电器涂层厚度分析

检测范围

电磁继电器、固态继电器、热继电器、时间继电器、中间继电器、汽车继电器、功率继电器、信号继电器、安全继电器、磁保持继电器、高频继电器、极化继电器、舌簧继电器、真空继电器、高压继电器、温度继电器、速度继电器、压力继电器、液位继电器、继电器触点、继电器线圈、继电器外壳等。

检测项目

涂层厚度、镀层厚度、涂层均匀性、镀层附着力、涂层孔隙率、镀层致密度、涂层表面粗糙度、镀层硬度、涂层结合强度、多层镀层厚度、局部镀层厚度、平均镀层厚度、镀层连续性、涂层耐磨性、镀层耐腐蚀性等。

检测仪器(部分)：

涂层测厚仪，镀层测厚仪，库仑测厚仪，磁性测厚仪，涡流测厚仪，X射线荧光测厚仪等。

检测方法(部分)：

磁性测厚法：利用磁性基体上非磁性覆盖层对磁场的影响测量涂层厚度，适用于继电器铁基材料上的非磁性镀层。常用的设备有磁性测厚仪。

涡流测厚法：利用涡流原理测量非导电基体上导电涂层的厚度，适用于继电器塑料外壳上的金属镀层测量。常用的设备有涡流测厚仪。

库仑溶解法：通过电解溶解涂层并测量消耗的电量来计算涂层厚度，可测量多层镀层中各层的厚度。常用的设备有库仑测厚仪。

X射线荧光法：利用X射线激发涂层产生特征荧光，根据荧光强度计算涂层厚度和成分。常用的设备有X射线荧光测厚仪。

显微镜截面测量法：将继电器试样镶嵌后磨抛截面，在显微镜下直接测量涂层的厚度分布。常用的设备有金相显微镜和图像分析系统。

参考标准

GB/T 4955-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法

GB/T 4956-2003 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法

GB/T 4957-2003 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法

GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 横断面厚度显微镜测量方法

GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法

ISO 2178:2016 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法

ISO 2360:2017 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法

ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法

ASTM B499-09(2014) 磁性法测量磁性基体上非磁性金属覆盖层厚度的标准试验方法

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

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