氮化硅工艺元素测试

检测项目

1.主量元素分析：硅含量，氮含量，氧含量，碳含量。

2.金属杂质元素检测：铁，铝，钙，镁，钠，钾。

3.过渡元素检测：钛，铬，锰，镍，铜，锌。

4.烧结助剂元素检测：钇，铈，镧，铝，镁，钙。

5.微量有害元素检测：铅，镉，砷，汞，铍。

6.稀土元素分布检测：钇，镧，铈，镨，钕，钐。

7.表面元素状态检测：表层硅元素，表层氮元素，表层氧元素，表面污染元素。

8.元素均匀性检测：颗粒间元素分布，截面元素分布，局部富集元素，偏析元素。

9.原料纯度元素检测：主成分杂质元素，痕量金属元素，游离硅相关元素，残留反应元素。

10.烧结过程残留元素检测：残余氧元素，残余碳元素，未反应助剂元素，挥发残留元素。

11.涂层与界面元素检测：界面硅元素，界面氮元素，界面氧元素，扩散元素。

12.失效样品元素溯源：异常杂质元素，污染来源元素，腐蚀产物元素，磨损转移元素。

检测范围

氮化硅粉体、氮化硅造粒料、氮化硅生坯、氮化硅烧结体、氮化硅陶瓷基片、氮化硅陶瓷球、氮化硅轴承件、氮化硅密封环、氮化硅喷嘴、氮化硅导热基板、氮化硅结构件、氮化硅刀具材料、氮化硅薄片、氮化硅涂层件、氮化硅复合陶瓷、氮化硅废样、氮化硅断裂样品、氮化硅原料混合物

检测设备

1.电感耦合等离子体发射光谱仪：用于多种金属元素的定量分析，适合主量与杂质元素测定。

2.电感耦合等离子体质谱仪：用于痕量与超痕量元素检测，适合微量杂质和有害元素分析。

3.波长色散型荧光光谱仪：用于固体样品中多元素快速筛查，适合原料和烧结体元素组成分析。

4.能量色散型荧光光谱仪：用于样品中常见元素的快速无损检测，适合过程监控与来样初筛。

5.氧氮氢分析仪：用于测定样品中的氧和氮含量，适合主成分与残余元素控制。

6.碳硫分析仪：用于测定碳元素含量，适合测试残碳与工艺洁净程度。

7.扫描电子显微镜：用于观察样品微观形貌，可结合局部区域开展元素分布分析。

8.电子探针显微分析仪：用于微区定性定量分析，适合截面元素分布和偏析研究。

9.辉光放电发射光谱仪：用于表层及深度方向元素分析，适合涂层与界面元素测试。

10.激光剥蚀进样系统：用于固体样品局部取样，适合微区元素分布与深度分析配合使用。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.