您好，欢迎访问北京中科光析科学技术研究所官网！
荣誉资质
研究院地址
中文
科研项目
中析研究所能进行计量、机械性能、振动噪声、理化分析试验、电气分析试验、电气传动、齿轮检测、无损检测、机械载荷谱测试、流体传动试验等多种专业检测，并拥有提升、粉磨、破碎、洗选、建材、传动、自动化、材料、焊接、热工等多个试验室。
石膏结晶水含量分析
中析研究所旗下CMA实验室进行的石膏结晶水含量分析，可测样品：天然石膏、工业副产石膏、脱硫石膏、磷石膏、柠檬酸石膏、氟石膏、钛石膏、硼石膏、盐石膏、模具石膏等，会为您提供结晶水含量测定、附着水含量检测、结合水含量分析等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考：GB/T 5484-2000 石膏化学分析方法、GB/T 21371-2008 用于水泥中的工业副产石膏、JC/T 2075-2011 α型半水石膏等。
发布时间：2026-06-23 04:34:01
查看详情
聚碳酸酯缺口冲击分析
中析研究所旗下CMA实验室进行的聚碳酸酯缺口冲击分析，可测样品：聚碳酸酯板材、聚碳酸酯薄膜、聚碳酸酯管材、聚碳酸酯注塑件、聚碳酸酯挤出件、聚碳酸酯模压件、聚碳酸酯薄膜制品、聚碳酸酯光学器件、聚碳酸酯电子元件、聚碳酸酯汽车零件等，会为您提供缺口冲击强度测定、简支梁冲击测试、悬臂梁冲击分析等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考：GB/T 1043.1-2008 塑料 简支梁冲击性能的测定 第1部分：非仪器化冲击试验、GB/T 1843-2008 塑料 悬臂梁冲击强度的测定、ISO 180
发布时间：2026-06-23 04:33:39
查看详情
硅片表面粗糙度试验
中析研究所旗下CMA实验室进行的硅片表面粗糙度试验，可测样品：单晶硅片、多晶硅片、抛光硅片、研磨硅片、切割硅片、太阳能级硅片、半导体级硅片、区熔硅片、直拉硅片、外延硅片等，会为您提供表面粗糙度测定、微观不平度分析、表面轮廓度测量等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考：GB/T 14263-2009 硅片表面粗糙度测试方法、GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法、SEMI MF728-0211 气相生长多晶硅表面粗糙度的标准试验方法等。
发布时间：2026-06-23 04:33:35
查看详情
HDI板微孔导通性分析
中析研究所旗下CMA实验室进行的HDI板微孔导通性分析，可测样品：高密度互连印制电路板、任意层HDI板、逐层HDI板、盲孔HDI板、埋孔HDI板、微盲孔HDI板、微埋孔HDI板、激光钻孔HDI板、等离子蚀孔HDI板、一阶HDI板等，会为您提供微孔导通电阻测试、微孔连通性检测、微孔孔壁完整性分析等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考：GB/T 4588.12-2000 印制电路板 第12部分：互连结构用各层导电箔规范、IPC-6016 高密度互连(HDI)印制板鉴定与性能规范等。
发布时间：2026-06-23 04:33:13
查看详情