检测项目
晶体结构分析:XRD检测范围10-90°(2θ),晶格常数精度±0.0005 nm
能带隙测定:紫外-可见分光光度计检测波长200-900 nm,分辨率0.1 nm
声子振动模式识别:拉曼光谱仪激发波长532 nm/785 nm,光谱分辨率0.5 cm⁻¹
缺陷态密度检测:光致发光光谱(PL)温度范围77-300 K,检测限≤1×10¹⁵ cm⁻³
元素价态分析:X射线光电子能谱(XPS)能量分辨率≤0.45 eV
检测范围
半导体材料:硅(Si)、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)单晶
陶瓷材料:氧化铝(Al₂O₃)、氮化硼(BN)烧结体
光学晶体:铌酸锂(LiNbO₃)、蓝宝石(Al₂O₃)衬底
超硬材料:金刚石(C)、立方氮化硼(c-BN)薄膜
纳米晶体:量子点(CdSe/ZnS)、钙钛矿(MAPbI₃)粉末
检测方法
X射线衍射(XRD):ASTM E975-20、GB/T 23413-2009
拉曼光谱分析:ISO 20565:2018、GB/T 13301-2019
紫外-可见吸收光谱:JIS K 0115:2021、GB/T 26798-2011
光致发光光谱(PL):IEC 62906-5-4:2020、GB/T 3780.15-2016
X射线光电子能谱(XPS):ISO 18118:2015、GB/T 19500-2022
检测设备
X射线衍射仪:PANalytical Empyrean,配备高温附件(-196~1600℃)
显微共焦拉曼光谱仪:Renishaw inVia,空间分辨率0.5 μm
深紫外分光光度计:Hitachi UH4150,检测波长范围165-3300 nm
低温PL检测系统:Horiba LabRAM HR Evolution,液氦闭环控温(4-500 K)
高分辨XPS系统:Thermo Scientific K-Alpha+,单色化Al Kα光源(1486.6 eV)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。