价键晶体光谱检测

检测项目

晶体结构分析：XRD检测范围10-90°（2θ），晶格常数精度±0.0005 nm

能带隙测定：紫外-可见分光光度计检测波长200-900 nm，分辨率0.1 nm

声子振动模式识别：拉曼光谱仪激发波长532 nm/785 nm，光谱分辨率0.5 cm⁻¹

缺陷态密度检测：光致发光光谱（PL）温度范围77-300 K，检测限≤1×10¹⁵ cm⁻³

元素价态分析：X射线光电子能谱（XPS）能量分辨率≤0.45 eV

检测范围

半导体材料：硅（Si）、碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）单晶

陶瓷材料：氧化铝（Al₂O₃）、氮化硼（BN）烧结体

光学晶体：铌酸锂（LiNbO₃）、蓝宝石（Al₂O₃）衬底

超硬材料：金刚石（C）、立方氮化硼（c-BN）薄膜

纳米晶体：量子点（CdSe/ZnS）、钙钛矿（MAPbI₃）粉末

检测方法

X射线衍射（XRD）：ASTM E975-20、GB/T 23413-2009

拉曼光谱分析：ISO 20565:2018、GB/T 13301-2019

紫外-可见吸收光谱：JIS K 0115:2021、GB/T 26798-2011

光致发光光谱（PL）：IEC 62906-5-4:2020、GB/T 3780.15-2016

X射线光电子能谱（XPS）：ISO 18118:2015、GB/T 19500-2022

检测设备

X射线衍射仪：PANalytical Empyrean，配备高温附件（-196~1600℃）

显微共焦拉曼光谱仪：Renishaw inVia，空间分辨率0.5 μm

深紫外分光光度计：Hitachi UH4150，检测波长范围165-3300 nm

低温PL检测系统：Horiba LabRAM HR Evolution，液氦闭环控温（4-500 K）

高分辨XPS系统：Thermo Scientific K-Alpha+，单色化Al Kα光源（1486.6 eV）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.