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价键晶体光谱检测

原创
关键字: 价键晶体光谱测试仪器,价键晶体光谱测试标准,价键晶体光谱测试周期
发布时间:2025-03-10 16:22:06
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检测项目

晶体结构分析:XRD检测范围10-90°(2θ),晶格常数精度±0.0005 nm

能带隙测定:紫外-可见分光光度计检测波长200-900 nm,分辨率0.1 nm

声子振动模式识别:拉曼光谱仪激发波长532 nm/785 nm,光谱分辨率0.5 cm⁻¹

缺陷态密度检测:光致发光光谱(PL)温度范围77-300 K,检测限≤1×10¹⁵ cm⁻³

元素价态分析:X射线光电子能谱(XPS)能量分辨率≤0.45 eV

检测范围

半导体材料:硅(Si)、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)单晶

陶瓷材料:氧化铝(Al₂O₃)、氮化硼(BN)烧结体

光学晶体:铌酸锂(LiNbO₃)、蓝宝石(Al₂O₃)衬底

超硬材料:金刚石(C)、立方氮化硼(c-BN)薄膜

纳米晶体:量子点(CdSe/ZnS)、钙钛矿(MAPbI₃)粉末

检测方法

X射线衍射(XRD):ASTM E975-20、GB/T 23413-2009

拉曼光谱分析:ISO 20565:2018、GB/T 13301-2019

紫外-可见吸收光谱:JIS K 0115:2021、GB/T 26798-2011

光致发光光谱(PL):IEC 62906-5-4:2020、GB/T 3780.15-2016

X射线光电子能谱(XPS):ISO 18118:2015、GB/T 19500-2022

检测设备

X射线衍射仪:PANalytical Empyrean,配备高温附件(-196~1600℃)

显微共焦拉曼光谱仪:Renishaw inVia,空间分辨率0.5 μm

深紫外分光光度计:Hitachi UH4150,检测波长范围165-3300 nm

低温PL检测系统:Horiba LabRAM HR Evolution,液氦闭环控温(4-500 K)

高分辨XPS系统:Thermo Scientific K-Alpha+,单色化Al Kα光源(1486.6 eV)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户