数据持久性检测

检测项目

1.高温存储测试：温度范围85℃~150℃，持续时间500~3000小时
2.湿热循环测试：温度循环40℃~85℃，湿度95%RH3%，循环次数50~200次
3.紫外线加速老化：辐照强度0.68W/m@340nm，黑板温度65℃3℃，喷淋周期18min/102min
4.盐雾腐蚀测试：5%NaCl溶液连续喷雾，温度35℃2℃，持续时间48~1000小时
5.机械振动测试：频率范围5Hz~2000Hz，加速度5g~50g，三轴方向各振动30分钟

检测范围

1.半导体芯片封装材料（环氧树脂模塑料、硅胶灌封剂）
2.磁性存储介质（硬盘碟片、磁带基底膜）
3.光学存储介质（蓝光光盘聚碳酸酯基板、全息存储晶体）
4.高分子涂层材料（三防漆、UV固化保护膜）
5.金属防腐镀层（镍磷合金镀层、锌镍合金镀层）

检测方法

1.ASTMD3459-19《印刷线路板表面涂覆层加速老化试验方法》
2.ISO18925:2023《成像材料-光学磁盘的贮存稳定性要求》
3.GB/T2423.17-2008《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾》
4.IEC60068-2-14:2009《环境试验-第2-14部分：试验N：温度变化》
5.GB/T16422.3-2022《塑料实验室光源暴露试验方法第3部分：荧光紫外灯》

检测设备

1.恒温恒湿箱HWS-250：温度范围-70℃~150℃，湿度控制精度1%RH
2.紫外老化试验箱QUV/SE：配备UVA-340灯管，辐照度闭环控制系统
3.盐雾试验箱YWX-750：连续/循环喷雾模式切换，铂电阻温度传感器
4.振动试验系统V9840SL：最大推力20kN，频率分辨率0.01Hz
5.热重分析仪TGA5500：温度精度0.1℃，最大称量35g
6.FTIR光谱仪NicoletiS50：光谱范围7800~350cm⁻，DTGS检测器
7.X射线光电子能谱仪ESCALABXi+：空间分辨率≤3μm
8.原子力显微镜DimensionIcon：扫描范围90μm90μm10μm
9.氙灯老化箱Ci5000：光谱匹配度CIENo.85标准要求
10.四探针方阻测试仪RTS-9：测量范围10⁻⁴~10⁶Ω/sq

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.