元器件元素试验

检测项目

1.元素组成：主要元素定性，次要元素定性，杂质元素识别。

2.含量测定：主要元素含量，痕量元素含量，总量平衡核算。

3.有害元素：铅含量，镉含量，汞含量。

4.元素迁移：高温迁移测试，潮湿环境迁移测试，电场作用迁移测试。

5.均匀性：批内均匀性，层间均匀性，局部富集测试。

6.表面元素：表面元素分布，表面污染元素，表面氧化层元素。

7.氧化状态：价态分布，氧化物含量，还原态含量。

8.残留元素：工艺残留元素，清洗残留元素，焊接残留元素。

9.溶出测试：溶出量测定，溶出速率测试，溶出稳定性测试。

10.可靠性关联：元素偏析分析，元素杂质关联，元素含量漂移。

11.批次一致性：批次差异测试，离散度统计，异常值判定。

12.材料纯度：纯度计算，杂质总量，纯度等级判定。

检测范围

电阻体材料、陶瓷介质片、金属引线、焊料合金、镀层材料、基板材料、封装树脂、硅晶圆、磁性材料片、电容介质粉、导电浆料、连接器端子、芯片封装壳、热界面材料、粘结剂、屏蔽材料

检测设备

1.原子发射光谱仪：用于多元素定量分析，适合痕量与主量元素测定。

2.原子吸收光谱仪：用于特定元素含量测定，具备较高灵敏度。

3.质谱分析仪：用于痕量元素检测与同位素比值分析。

4.能谱分析系统：用于表面元素组成与分布的快速分析。

5.电子探针分析仪：用于微区元素含量与分布测定。

6.热解析装置：用于挥发性元素释放与迁移测试。

7.样品消解系统：用于固体样品前处理与元素溶出。

8.离子色谱仪：用于离子态元素分离与定量。

9.显微分析系统：用于元素富集与偏析位置观察。

10.洁净制样台：用于降低外来污染的制样与分装。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.