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高新技术企业证书
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氮化硅陶瓷粉体检测

原创
发布时间:2025-06-16 17:34:35
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检测项目

化学成分检测:

  • 元素含量分析:硅含量(≥99.5%)、氮含量(≥38.5wt%,参照ISO21079)
  • 杂质元素检测:铁含量(≤0.05%)、铝含量(≤0.03%,参照GB/T25934)
  • 氧含量测定:总氧量(≤1.5wt%,参照ASTME1019)
物理性能检测:
  • 粒度分布分析:D50值(1-5μm)、D90值(≤10μm,参照ISO13320)
  • 比表面积测试:BET方法(10-20m²/g,参照GB/T19587)
  • 密度测定:振实密度(≥1.5g/cm³)、真密度(≥3.2g/cm³)
相组成分析:
  • α相比例检测:XRD法(α-Si3N4≥90%,参照JISR1634)
  • β相含量:β-Si3N4≤5%,参照ISO14703
  • 非晶相测试:非晶含量≤2%
热性能检测:
  • 烧结收缩率:线性收缩(10-15%,参照ASTMC373)
  • 热稳定性测试:失重率(≤0.5%at1000°C)
  • 热膨胀系数:CTE(2.5-3.5×10⁻⁶/K)
电性能检测:
  • 介电常数:εr(6-8at1MHz)
  • 电导率:σ(≤10⁻⁸S/m,参照GB/T1410)
  • 损耗因子:tanδ(≤0.002)
机械性能检测:
  • 硬度测试:维氏硬度(≥1500HV,参照ISO6507)
  • 抗弯强度:三点弯曲(≥500MPa)
  • 断裂韧性:KIC(≥5MPa·m¹/²)
表面特性检测:
  • 表面形貌:SEM观察(颗粒形貌均匀性)
  • 表面能测定:接触角法(≤30°)
  • 表面电荷:Zeta电位(±30mV)
流变性能检测:
  • 粘度测试:旋转粘度计(≤1000mPa·s)
  • 流动性能:霍尔流速计(≥30s/50g)
光学性能检测:
  • 透光率:UV-Vis法(≥80%at600nm)
  • 反射率:光谱分析(≥90%)
生物相容性检测:
  • 细胞毒性:MTT法(存活率≥90%,参照ISO10993)
  • 离子释放:ICP-MS(Ni≤0.01ppm)

检测范围

1.高纯氮化硅粉体:用于半导体封装材料,检测重点为硅含量≥99.8%及铁杂质≤0.01%控制

2.烧结用氮化硅粉体:适用于陶瓷轴承制造,检测重点粒度分布D50值1-3μm及α相比例≥95%

3.复合材料粉体:含添加剂如Al2O3的混合粉,检测重点添加剂均匀度及界面结合强度

4.涂层粉体:用于热障涂层,检测重点比表面积15-25m²/g及烧结收缩率稳定性

5.医用氮化硅粉体:用于骨科植入物,检测重点生物相容性及无毒性元素含量

6.电子级粉体:用于基板材料,检测重点介电常数≤7及电导率≤10⁻⁹S/m

7.高温结构粉体:用于涡轮叶片,检测重点热膨胀系数≤3.0×10⁻⁶/K及抗蠕变性能

8.纳米氮化硅粉体:粒径≤100nm,检测重点分散性及团聚指数

9.掺杂改性粉体:含稀土元素粉体,检测重点掺杂均匀度及相稳定性

10.回收再利用粉体:工业废料再生粉,检测重点杂质累积及烧结性能恢复

检测方法

国际标准:

  • ISO13320:2020粒度分布激光衍射法
  • ASTMC20-00陶瓷材料密度测试
  • ASTME1019-18氧氮氢含量测定
  • ISO14703:2000粉末相组成X射线衍射法
  • ISO10993-5:2009医疗器械生物相容性试验
国家标准:
  • GB/T19587-2017气体吸附BET法比表面积测定
  • GB/T25934.3-2010陶瓷粉体杂质元素光谱分析法
  • GB/T1410-2006固体绝缘材料体积电阻率测试
  • GB/T19619-2004纳米材料粒度分布测试
  • GB/T17473.7-2008陶瓷粉体烧结收缩率测定
方法差异说明:国际标准如ISO13320强调激光衍射的湿法分散,而国家标准GB/T19587侧重于干法吸附;ASTME1019使用惰气熔融法测氧,GB/T25934.3采用ICP-MS检测杂质元素灵敏度更高;生物相容性ISO10993-5要求细胞培养周期更长,GB标准更侧重急性毒性测试。

检测设备

1.X射线衍射仪:PANalyticalEmpyrean型(角度范围0-160°,分辨率≤0.01°)

2.激光粒度分析仪:MalvernMastersizer3000型(测量范围0.01-3500μm,精度±1%)

3.扫描电子显微镜:HitachiSU8010型(分辨率1.0nm,加速电压0.5-30kV)

4.比表面积分析仪:MicromeriticsASAP2460型(BET范围0.01-3000m²/g,真空度≤10⁻⁶Torr)

5.电感耦合等离子体质谱仪:ThermoScientificiCAPRQ型(检测限≤0.1ppb,质量范围2-260amu)

6.热重分析仪:NetzschSTA449F3型(温度范围RT-1500°C,灵敏度0.1μg)

7.万能材料试验机:Instron5967型(载荷范围0.05-50kN,精度±0.5%)

8.硬度计:WilsonWolpertTukon2500型(载荷0.1-50kg,维氏硬度范围1-3000HV)

9.紫外可见分光光度计:ShimadzuUV-2600型(波长范围190-1400nm,带宽0.1nm)

10.Zeta电位分析仪:MalvernZetasizerNanoZS型(测量范围±500mV,温度控制±0.1°C)

11.旋转粘度计:BrookfieldDV2T型(转速0.01-250rpm,扭矩范围0-7187dyn·cm)

12.霍尔流速计:ERWEKAGmbH型(漏斗孔径2.5mm,标准流速30-60s/50g)

13.气体吸附仪:QuantachromeAutosorbiQ型(孔径分析范围0.35-500nm,真空系统≤10⁻⁹mbar)

14.细胞培养箱:ThermoScientificHeracellVIOS型(温度精度±0.1°C,CO2控制0-20%)

15.热膨胀仪:NetzschDIL402Expedis型(温度范围-170-1550°C,膨胀分辨率0.125nm)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

合作客户(部分)

1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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