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陶瓷材料检测

原创
关键字: 陶瓷材料测试范围,陶瓷材料测试方法,陶瓷材料测试周期
发布时间:2025-06-06 20:00:28
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检测项目

力学性能检测:

  • 抗弯强度:三点/四点弯曲强度(≥300MPa,参照ISO14704)
  • 断裂韧性:单边预裂纹梁法(KIC,ASTMC1421)
  • 硬度检测:维氏硬度(HV0.5)、努氏硬度(HK)
热学性能检测:
  • 热膨胀系数:20-1000℃范围(α,GB/T16535)
  • 导热系数:激光闪射法(λ,ISO18755)
  • 抗热震性:水淬法循环次数(ΔT=300℃)
电学性能检测:
  • 介电常数:1MHz-10GHz频段(εr,IEC60250)
  • 体积电阻率:直流高压法(ρv≥10¹²Ω·cm)
  • 介电损耗:频谱分析(tanδ≤0.005)
化学稳定性检测:
  • 耐酸碱性:沸腾酸/碱液侵蚀失重率(≤0.1mg/cm²)
  • 离子析出量:ICP-MS检测(Na⁺≤5ppm)
微观结构分析:
  • 晶相组成:XRD定量分析(Rietveld精修)
  • 孔隙率:阿基米德法(开孔率≤0.5%)
  • 晶粒尺寸:SEM图像分析(GS≤5μm)
表面性能检测:
  • 粗糙度:接触式轮廓仪(Ra≤0.2μm)
  • 耐磨性:摩擦系数(μ≤0.15,ASTMG99)
高温性能检测:
  • 高温强度:1400℃四点弯曲(RT强度保持率≥70%)
  • 蠕变速率:恒负荷压缩试验(≤10⁻⁹/s)
无损检测:
  • 超声探伤:C扫描缺陷定位(分辨率0.5mm)
  • X射线成像:孔隙检测(最小检出尺寸30μm)
环境可靠性检测:
  • 盐雾试验:96h表面腐蚀评级(ISO9227)
  • 湿热老化:85℃/85%RH加速试验
生物相容性检测:
  • 细胞毒性:MTT法(存活率≥90%)
  • 溶血率:分光光度法(≤5%,GB/T16886.4)

检测范围

1.氧化铝陶瓷:检测晶界相纯度(α-Al₂O₃≥99%)及高温绝缘性(1000℃电阻率)

2.氮化硅结构陶瓷:侧重β相含量(XRD半定量)及滚动接触疲劳寿命

3.压电陶瓷(PZT):压电常数d33(≥500pC/N)及居里温度点检测

4.透明陶瓷(YAG):光学透过率(400-1100nm≥80%)及散射中心分析

5.碳化硅耐火材料:抗渣侵蚀性(静态坩埚法)及高温抗氧化增重

6.LTCC基板材料:烧结收缩率(±0.5%)及介电频谱特性

7.生物活性陶瓷:羟基磷灰石结晶度(CI≥1.8)及体外矿化速率

8.多孔陶瓷滤芯:泡点压力(≥0.5MPa)及孔径分布(汞压法)

9.陶瓷涂层:结合强度(划痕法≥50N)及热障性能(ΔT≥150℃)

10.陶瓷基复合材料:界面剪切强度(推-out法)及高温氧化增重率

检测方法

国际标准:

  • ISO18755:2005激光闪射法导热系数测试
  • ASTMC1161-18室温下陶瓷抗弯强度测试
  • ASTMC1421-18陶瓷断裂韧性标准试验
  • IEC60672-3:1997陶瓷绝缘材料电性能测试
国家标准:
  • GB/T6569-2006精细陶瓷弯曲强度试验
  • GB/T30758-2014陶瓷热膨胀系数检测
  • GB/T5594.8-2015电子元器件陶瓷材料介电性能
  • GB/T4740-1999陶瓷材料容积密度测定
(标准差异说明:ISO与GB抗弯强度试样尺寸不同;ASTM断裂韧性允许使用SEPB/SEVNB法,国标优先采用SEVNB法)

检测设备

1.万能材料试验机:INSTRON5967型(载荷100kN,高温炉1500℃)

2.激光导热仪:LFA467HyperFlash(温度范围-125~2800℃)

3.X射线衍射仪:BrukerD8ADVANCE(2θ精度±0.0001°)

4.扫描电镜:ZEISSGeminiSEM500(分辨率0.8nm@15kV)

5.阻抗分析仪:KeysightE4990A(频率范围20Hz-120MHz)

6.热膨胀仪:DIL402Expedis(升温速率0.001-50K/min)

7.维氏硬度计:WilsonVH1150(载荷0.01-50kgf)

8.高温蠕变试验机:恒应力型(最高温度1600℃)

9.X射线无损探伤机:YXLONFF35(焦点尺寸5μm)

10.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(分辨率0.1nm)

11.等离子体质谱仪:Agilent8900(检出限ppt级)

12.激光粒度仪:Mastersizer3000(量程0.01-3500μm)

13.荧光光谱仪:ShimadzuEDX-7000(元素范围B-U)

14.热震试验炉:自动淬火系统(ΔTmax=1200℃)

15.表面轮廓仪:TaylorHobsonPGI840(纵向分辨率

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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